[实用新型]一种用于芯片的测试插座有效
| 申请号： | 201620763713.8 | 申请日： | 2016-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN206161789U | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 施元军;刘凯 | 申请（专利权）人： | 苏州韬盛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)11357 | 代理人： | 刘洪勋 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于芯片的测试插座，包括芯片测试基座，芯片测试基座的中心处开设有一凹槽，凹槽的中心处开设有一通孔，通孔内设置有接地铜块，围绕接地铜块的四周并在凹槽内开设有若干个信号探针孔，信号传输探针的一端插接在所述信号探针孔上，接地铜块上开设有若干个接地探针孔，接地测试探针的一端插接在所述接地探针孔上，信号传输探针的另一端的高度与接地测试探针的另一端的高度相持平布置。本实用新型通过在芯片测试基座上增加一接地铜块，并在接地铜块上安装有若干个接地测试探针，通过在芯片测试基座的中心增加接地测试探针，来减小回路的电压，提高测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 测试 插座 | ||
【主权项】：
一种用于芯片的测试插座，其特征在于：包括芯片测试基座，所述芯片测试基座的中心处开设有一凹槽，所述凹槽的中心处开设有一通孔，所述通孔内设置有接地铜块，围绕所述接地铜块的四周并在凹槽内开设有若干个信号探针孔，信号传输探针的一端插接在所述信号探针孔上，呈竖直布置，所述接地铜块上开设有若干个接地探针孔，接地测试探针的一端插接在所述接地探针孔上，也呈竖直布置，与所述信号传输探针平行设置，所述信号传输探针将接地测试探针包围布置，所述信号传输探针的另一端的高度与所述接地测试探针的另一端的高度相持平布置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州韬盛电子科技有限公司，未经苏州韬盛电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201620763713.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种电缆弯曲装置
- 下一篇：用于同时遮蔽水泥杆杆身与单横担的一体化绝缘遮蔽罩
