[实用新型]一种用于芯片的测试插座

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于芯片的测试插座。

背景技术

近年来，数据的大规模传输要求变得越来越普及。很多芯片都要经过超高频的测试，怎样避免信号之间的干扰，怎样减小电信号通过时的损耗，是芯片高频测试的关键.如此苛刻的要求，对芯片测试插座提出了越来越高的要求。

传统测试插座原理：将待测芯片放入测试插座內，依靠探针的头部刺破焊接球的氧化层，保证芯片的每一个引脚通过探针与电路板上的每一个焊盘接触良好进行电测试。但是，随着设计与制造技术的发展，集成电路设计已发展到系统级芯片阶段，SOC设计技术成为设计的热点.模数转换器(ADC)是SOC芯片中的重要模块，随着器件时钟频率的不断提高，高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数测试的重点。而传统的芯片测试插座，信号之间干扰严重，不能准确地测试这些高速高频的信号。

有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的用于芯片的测试插座，使其更具有产业上的利用价值。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提供一种用于芯片的测试插座。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种用于芯片的测试插座，包括芯片测试基座，所述芯片测试基座的中心处开设有一凹槽，所述凹槽的中心处开设有一通孔，所述通孔内设置有接地铜块，围绕所述接地铜块的四周并在凹槽内开设有若干个信号探针孔，信号传输探针的一端插接在所述信号探针孔上，呈竖直布置，所述接地铜块上开设有若干个接地探针孔，接地测试探针的一端插接在所述接地探针孔上，也呈竖直布置，与所述信号传输探针平行设置，所述信号传输探针将接地测试探针包围布置，所述信号传输探针的另一端的高度与所述接地测试探针的另一端的高度相持平布置。

进一步的，所述的用于芯片的测试插座，其中，所述凹槽内还设置有芯片导向板，所述芯片导向板的中心处开设有一芯片通孔，信号传输探针和接地测试探针均设置在所述芯片通孔内。

再进一步的，所述的用于芯片的测试插座，其中，所述芯片测试基座上还设置有探针保持板，所述探针保持板的中心处开设有一探针通孔，在探针通孔的四周设置有探针孔，所述信号探针孔与探针孔呈上下一一对应布置。

更进一步的，所述的用于芯片的测试插座，其中，所述探针通孔的口径与通孔的口径相匹配布置。

再更进一步的，所述的用于芯片的测试插座，其中，所述探针保持板通过螺栓固定在芯片测试基座的底部。

再更进一步的，所述的用于芯片的测试插座，其中，所述信号传输探针和接地测试探针均为弹簧探针。

再更进一步的，所述的用于芯片的测试插座，其中，所述接地铜块上的接地探针孔设有32个孔，呈方形网格分布。

再更进一步的，所述的用于芯片的测试插座，其中，所述芯片导向板的顶面与芯片测试基座的顶面相持平布置。

借由上述方案，本实用新型至少具有以下优点：

本实用新型通过在芯片测试基座上增加一接地铜块，并在接地铜块上安装有若干个接地测试探针，通过在芯片测试基座的中心增加接地测试探针，来减小回路的电压，提高测试的准确性，而且接地测试探针尽可能选用电感较小的接地测试探针，能最大程度上节约测试成本。并且该装置结构简单，便于操作。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的接地铜块的结构示意图；

图3是本实用新型的原理电路图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。