[实用新型]一种用于芯片的测试插座

权利要求书

1.一种用于芯片的测试插座，其特征在于：包括芯片测试基座，所述芯片测试基座的中心处开设有一凹槽，所述凹槽的中心处开设有一通孔，所述通孔内设置有接地铜块，围绕所述接地铜块的四周并在凹槽内开设有若干个信号探针孔，信号传输探针的一端插接在所述信号探针孔上，呈竖直布置，所述接地铜块上开设有若干个接地探针孔，接地测试探针的一端插接在所述接地探针孔上，也呈竖直布置，与所述信号传输探针平行设置，所述信号传输探针将接地测试探针包围布置，所述信号传输探针的另一端的高度与所述接地测试探针的另一端的高度相持平布置。

2.根据权利要求1所述的用于芯片的测试插座，其特征在于：所述凹槽内还设置有芯片导向板，所述芯片导向板的中心处开设有一芯片通孔，信号传输探针和接地测试探针均设置在所述芯片通孔内。

3.根据权利要求1所述的用于芯片的测试插座，其特征在于：所述芯片测试基座上还设置有探针保持板，所述探针保持板的中心处开设有一探针通孔，在探针通孔的四周设置有探针孔，所述信号探针孔与探针孔呈上下一一对应布置。

4.根据权利要求3所述的用于芯片的测试插座，其特征在于：所述探针通孔的口径与通孔的口径相匹配布置。

5.根据权利要求3所述的用于芯片的测试插座，其特征在于：所述探针保持板通过螺栓固定在芯片测试基座的底部。

6.根据权利要求1所述的用于芯片的测试插座，其特征在于：所述信号传输探针和接地测试探针均为弹簧探针。

7.根据权利要求1所述的用于芯片的测试插座，其特征在于：所述接地铜块上的接地探针孔设有32个孔，呈方形网格分布。

8.根据权利要求2所述的用于芯片的测试插座，其特征在于：所述芯片导向板的顶面与芯片测试基座的顶面相持平布置。