[实用新型]一种半导体元器件绝缘测试装置有效
申请号: | 201620538298.6 | 申请日: | 2016-06-06 |
公开(公告)号: | CN205691719U | 公开(公告)日: | 2016-11-16 |
发明(设计)人: | 谭杰;区永强;肖志华 | 申请(专利权)人: | 佛山市蓝箭电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人: | 王永文;刘文求 |
地址: | 528051 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开一种半导体元器件绝缘测试装置,其中,包括一用于放置半导体元器件的引脚接触组件以及与所述引脚接触组件连接的用于对所述半导体元器件进行绝缘测试的测试爪接触组件;所述测试爪接触组件包括一测试爪、用于驱动所述测试爪上下移动的驱动机构以及通过金属固定片与所述测试爪固定在一起的塑胶块支架。采用本实用新型提供的一种半导体元器件绝缘测试装置,不仅提高了半导体元器件绝缘测试项的稳定性,而且提高了测试效率、降低了测试成本,同时有效避免了人为触电的可能性。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 元器件 绝缘 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体元器件绝缘测试装置,其特征在于,包括一用于放置半导体元器件的引脚接触组件以及与所述引脚接触组件连接的用于对所述半导体元器件进行绝缘测试的测试爪接触组件;所述测试爪接触组件包括一测试爪、用于驱动所述测试爪上下移动的驱动机构以及通过金属固定片与所述测试爪固定在一起的塑胶块支架。
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