[实用新型]测量金属密实物质前界面的阶跃信号电探针测试电路有效
| 申请号： | 201620256319.5 | 申请日： | 2016-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN205580898U | 公开（公告）日： | 2016-09-14 |
| 发明（设计）人： | 文雪峰;王晓燕;王健;蒲国红;李英;温上捷;张宇红 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号： | G01N3/313 | 分类号： | G01N3/313 |
| 代理公司： | 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 | 代理人： | 罗韬 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及光电瞬态测试技术领域，提供一种测量金属密实物质前界面的阶跃信号电探针测试电路，包括电探针和阶跃信号形成电路，阶跃信号形成电路包括电压源、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、第三电阻，第一电阻的一端与电压源连接，第二电阻的一端与电探针连接，第二电阻的另一端、第一电容的一端、第二电容的一端与第一电阻的另一端连接，第一电容的另一端、第二电容的另一端与第三电阻的一端连接，第三电阻的另一端均接地。本实用新型提出的技术方案具有长时间恒压放电能力，具备深入微喷射物质层并响应金属样品密实物质界面的测试能力。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 金属 密实 物质 界面 阶跃 信号 探针 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种测量金属密实物质前界面的阶跃信号电探针测试电路，其特征在于包括电探针和阶跃信号形成电路，所述阶跃信号形成电路包括电压源(E)、第一电阻(RE)、第二电阻(Rp)、第一电容(C1)、第二电容(C2)、第三电阻(Rs)，所述第一电阻(RE)的一端与电压源(E)连接，所述第二电阻(Rp)的一端与电探针连接，所述第二电阻(Rp)的另一端、第一电容(C1)的一端、第二电容(C2)的一端与第一电阻(RE)的另一端连接，所述第一电容(C1)的另一端、第二电容(C2)的另一端与第三电阻(Rs)的一端连接，所述第三电阻(Rs)的另一端接地。
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