[发明专利]电容容值测量电路

摘要

一种电容容值测量电路，包括控制器、待测电容、电容充放电单元以及电压采样单元，其中：所述控制器，适于在一个测量周期中，输出充电控制信号至所述电容充放电单元；并在输出所述充电控制信号达到预设时长时，输出放电控制信号至所述电容充放电单元；计算所述测量周期中，所述待测电容的电压改变量；根据预设的标准电容容值与电压改变量的对应关系，计算所述待测电容容值；所述电容充放电单元，适于在所述充电控制信号的控制下，与所述待测电容形成充电回路；在所述放电控制信号的控制下，与所述待测电容形成放电回路；所述电压采样单元，适于采集所述待测电容的电压值。上述方案能够有效提高电容容值测量的精度。

主权项

1.一种电容容值测量电路，其特征在于，包括：控制器、待测电容，分别与所述控制器及所述待测电容耦接的电容充放电单元以及电压采样单元，所述控制器中存储有预设的标准电容容值与电压改变量的对应关系，其中：所述控制器，适于在一个测量周期中，输出充电控制信号至所述电容充放电单元；并在输出所述充电控制信号达到预设时长时，输出放电控制信号至所述电容充放电单元；获取输出所述充电控制信号时所述电压采样单元采集到的待测电容的电压值作为所述待测电容开始充电时的电压值，以及输出所述放电控制信号时所述电压采样单元采集到的待测电容的电压值作为所述待测电容开始放电时的电压值，计算所述测量周期中，所述待测电容在所述预设时长内的电压改变量；根据预设的标准电容容值与电压改变量的对应关系，计算所述待测电容容值，包括：采用如下公式计算所述待测电容容值：其中，C为所述待测电容容值，C₀为预设的标准电容容值，V₂为所述标准电容对应的开始放电时的电压值，V₁为所述标准电容对应的开始充电时的电压值，(V₂‑V₁)为所述标准电容容值对应的电压改变量，V′₂为所述待测电容对应的开始放电时的电压值，V′₁为所述待测电容对应的开始充电时的电压值，V′₂‑V′₁为所述待测电容在所述预设时长内的电压改变量；所述电容充放电单元，适于在所述充电控制信号的控制下，与所述待测电容形成充电回路，使所述待测电容充电；以及，在所述放电控制信号的控制下，与所述待测电容形成放电回路，使所述待测电容放电；所述电压采样单元，与所述待测电容耦接，适于在一个所述测量周期内，采集所述待测电容的电压值。