[发明专利]高速光电探测器芯片的制作方法有效

专利信息
申请号: 201611065634.0 申请日: 2016-11-28
公开(公告)号: CN106356416B 公开(公告)日: 2018-02-06
发明(设计)人: 赵润;尹顺政;安文 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: H01L31/0232 分类号: H01L31/0232;H01L31/18;H01L31/105;H01L31/107
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所13120 代理人: 王荣君
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种高速光电探测器芯片的制作方法,涉及半导体器件技术领域。本发明芯片包括衬底和外延层,外延层为探测器有源层,衬底背面设有曲面反射镜。本发明制作方法包括在衬底上生长外延层,外延层结构为探测器有源层;采用光刻、腐蚀工艺去掉光敏区外延层四周边沿;采用光刻、蒸发、溅射、电镀在衬底上制成N电极,在探测器有源层上制成P电极,采用淀积工艺制成光敏面增透膜;将衬底背面减薄并抛光,在衬底背面制作出曲面反射镜;采用蒸发、溅射在曲面反射镜外表面制作薄膜反射层,曲面的拱顶高于衬底背面。利用本发明的制备方法制备的芯片具有高带宽、高响应度、高灵敏度、结构简单的优点,能够解决现有技术中存在的缺点。
搜索关键词: 高速 光电 探测器 芯片 及其 制作方法
【主权项】:
一种高速光电探测器芯片的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:在衬底(1)上生长外延层,外延层结构为探测器有源层(5);采用光刻、腐蚀工艺去掉探测器有源层(5)光敏区外延层四周边沿;采用光刻、蒸发、溅射、电镀在衬底(1)上制成N电极(7),在探测器有源层(5)上制成P电极(6),采用淀积工艺在探测器有源层(5)上面制成光敏面增透膜;将衬底(1)背面减薄并抛光后,通过光刻、刻蚀在衬底(1)背面制作出曲面反射镜(8);采用蒸发、溅射在曲面反射镜(8)外表面制作宽谱高反射率反射层,曲面的拱顶高于衬底(1)背面。
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