[发明专利]高速光电探测器芯片的制作方法有效
申请号: | 201611065634.0 | 申请日: | 2016-11-28 |
公开(公告)号: | CN106356416B | 公开(公告)日: | 2018-02-06 |
发明(设计)人: | 赵润;尹顺政;安文 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | H01L31/0232 | 分类号: | H01L31/0232;H01L31/18;H01L31/105;H01L31/107 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所13120 | 代理人: | 王荣君 |
地址: | 050051 *** | 国省代码: | 河北;13 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种高速光电探测器芯片的制作方法,涉及半导体器件技术领域。本发明芯片包括衬底和外延层,外延层为探测器有源层,衬底背面设有曲面反射镜。本发明制作方法包括在衬底上生长外延层,外延层结构为探测器有源层;采用光刻、腐蚀工艺去掉光敏区外延层四周边沿;采用光刻、蒸发、溅射、电镀在衬底上制成N电极,在探测器有源层上制成P电极,采用淀积工艺制成光敏面增透膜;将衬底背面减薄并抛光,在衬底背面制作出曲面反射镜;采用蒸发、溅射在曲面反射镜外表面制作薄膜反射层,曲面的拱顶高于衬底背面。利用本发明的制备方法制备的芯片具有高带宽、高响应度、高灵敏度、结构简单的优点,能够解决现有技术中存在的缺点。 | ||
搜索关键词: | 高速 光电 探测器 芯片 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种高速光电探测器芯片的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:在衬底(1)上生长外延层,外延层结构为探测器有源层(5);采用光刻、腐蚀工艺去掉探测器有源层(5)光敏区外延层四周边沿;采用光刻、蒸发、溅射、电镀在衬底(1)上制成N电极(7),在探测器有源层(5)上制成P电极(6),采用淀积工艺在探测器有源层(5)上面制成光敏面增透膜;将衬底(1)背面减薄并抛光后,通过光刻、刻蚀在衬底(1)背面制作出曲面反射镜(8);采用蒸发、溅射在曲面反射镜(8)外表面制作宽谱高反射率反射层,曲面的拱顶高于衬底(1)背面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十三研究所,未经中国电子科技集团公司第十三研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611065634.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种配置数据的同步方法及装置
- 下一篇:一种流量监测拓扑生成方法和系统
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的