[发明专利]光掩模相关基板所使用的基板清洗装置以及基板清洗方法在审
| 申请号: | 201610916600.1 | 申请日: | 2016-10-20 |
| 公开(公告)号: | CN107037688A | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
| 发明(设计)人: | 沼波恒夫;稻月判臣;桜田豊久 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
| 主分类号: | G03F1/82 | 分类号: | G03F1/82 |
| 代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司72003 | 代理人: | 李英艳 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本发明的课题在于,提供一种光掩模相关基板所使用的基板清洗装置以及基板清洗方法,所述基板清洗装置在进行清洗处理时,可以防止异物附着在基板上。为了解决上述课题,本发明提供一种光掩模相关基板所使用的基板清洗装置,具备保持构件,其只保持基板的端面;旋转机构,其使该保持构件旋转;以及,喷嘴,其向所述基板的至少表面侧供给液体,所述基板通过该旋转机构而与所述保持构件一起旋转;所述基板清洗装置的特征在于,至少一个所述保持构件的表面具有导电性,该具有导电性的保持构件接地。 | ||
| 搜索关键词: | 光掩模 相关 使用 清洗 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种光掩模相关基板所使用的基板清洗装置,具备:保持构件,只保持基板的端面;旋转机构,使所述保持构件旋转;以及,喷嘴,向所述基板的至少表面侧供给液体,所述基板通过该旋转机构而与所述保持构件一起旋转;所述清洗装置的特征在于,至少一个所述保持构件的表面具有导电性,所述具有导电性的保持构件接地。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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