[发明专利]电子元件检测装置的探针固定导接构造有效
| 申请号： | 201610888686.1 | 申请日： | 2016-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN107037244B | 公开（公告）日： | 2020-03-03 |
| 发明（设计）人： | 林芳旭 | 申请（专利权）人： | 万润科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 喻学兵 |
| 地址： | 中国台湾高雄*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子元件检测装置的探针固定导接构造，包括：一探针座，可受驱动进行上、下位移，该探针座设有枢孔；一探针，包括一针部及一固定部，并以该固定部设于该探针座的该枢孔；一导线，该导线一端与该探针连接，另一端接设及传递信号至一检测仪器；该探针座上表面在相隔该探针一间距下设有凹槽，凹槽的内侧壁相对应分别设有贯通并朝该枢孔的抵孔，及贯通并朝探针座外侧的通孔，该凹槽上方为开口状；一嵌块可自开口状上方取放，该嵌块设有前后贯通的一螺抵孔分别对应该探针座上该抵孔及该通孔，一螺抵件穿经该通孔，而螺经该嵌块上的该螺抵孔，至前端穿经该抵孔而抵及该探针的该固定部周缘。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 检测 装置 探针 固定 构造 | ||
【主权项】：
一种电子元件检测装置的探针固定导接方法，包括：提供一探针座，使其可受驱动进行上、下位移；提供一探针，设于该探针座上，包括一针部及供针部螺设的固定部；提供一导线，使该导线一端与探针连接，另一端接设及传递信号至检测仪器；使该探针的固设定位，是以一螺抵件先穿经探针座一通孔，再螺经一嵌块具有内螺纹的螺抵孔，然后至前端穿经探针座一抵孔而抵及探针的固定部周缘，使探针获得锁固定位。
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