[发明专利]电子元件检测装置的探针固定导接构造

说明书

本发明提供一种电子元件检测装置的探针固定导接构造，包括：一探针座，可受驱动进行上、下位移，该探针座设有枢孔；一探针，包括一针部及一固定部，并以该固定部设于该探针座的该枢孔；一导线，该导线一端与该探针连接，另一端接设及传递信号至一检测仪器；该探针座上表面在相隔该探针一间距下设有凹槽，凹槽的内侧壁相对应分别设有贯通并朝该枢孔的抵孔，及贯通并朝探针座外侧的通孔，该凹槽上方为开口状；一嵌块可自开口状上方取放，该嵌块设有前后贯通的一螺抵孔分别对应该探针座上该抵孔及该通孔，一螺抵件穿经该通孔，而螺经该嵌块上的该螺抵孔，至前端穿经该抵孔而抵及该探针的该固定部周缘。

【技术领域】

本发明是有关于一种探针固定导接构造，尤指一种用以检测电子元件(例如被动元件)的电气特性(例如电阻值)的电子元件检测装置的探针固定导接机构。

【背景技术】

按，一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分类的程序来进行包装或分类，在进行检测时常借一检测座上间歇旋转的载盘，载盘周缘设有环列布设的凹槽，使电子元件输入凹槽中被间歇旋转搬送，并在检测座下方设有检测装置，使检测装置中的探针穿经检测座而凸伸至凹槽中底部，俾被间歇旋转输送至对应探针定位处的凹槽中电子元件可被检测；

此类检测装置由于探针长期检测下与电子元件间容易发生接触磨损，因此必须经常作探针伸出检测座高度的调整；此种探针通常螺设于一固定座的固定部中，借由调整固定部的旋转运动而相对的转为使探针作上伸或下降的直线运动。

【发明内容】

然而由于一般探针必须以导线连接检测仪器，导线通常焊接于该金属(通常为铜质材料)制成的固定部上，以传导至同为金属导电材质的探针，故固定部在作旋转调整时容易使导线的焊接部位断裂脱落，另，由于固定部是以螺接件螺固于固定座具内螺纹的固定孔中，该固定座通常为不导电的材质例如压克力、电木，每次调整固定部皆需转动螺接件作对固定部的松放及螺固操作，长期操作下容易使固定座的内螺纹损坏。

爰是，本发明的目的，在于提供一种使探针座的探针定位更稳固的电子元件检测装置的探针固定导接构造。

依据本发明目的的电子元件检测装置的探针固定导接构造，包括：一探针座，可受驱动进行上、下位移，该探针座设有枢孔；一探针，包括一针部及一固定部，并以该固定部设于该探针座的该枢孔；一导线，该导线一端与该探针连接，另一端接设及传递信号至一检测仪器；该探针座上表面在相隔该探针一间距下设有凹槽，凹槽的内侧壁相对应分别设有贯通并朝该枢孔的抵孔，及贯通并朝探针座外侧的通孔，该凹槽上方为开口状；一嵌块可自开口状上方取放，该嵌块设有前后贯通的一螺抵孔分别对应该探针座上该抵孔及该通孔，一螺抵件穿经该通孔，而螺经该嵌块上的该螺抵孔，至前端穿经该抵孔而抵及该探针的该固定部周缘。

本发明实施例的电子元件检测装置的探针固定导接构造，由于使提供内螺纹供螺固件螺经的嵌块可以轻易的自凹槽中取放，而螺抵探针的固定部周缘的螺抵件所螺设之内螺纹是设于探针座外的金属嵌块上，探针座并不受内螺纹的损毁影响，且配合用以固定嵌块的螺固件在螺固后即不需经常旋进旋出，故探针可以获得稳固的锁固；且由于导线是以端子套嵌套于每一探针螺设针部的固定部下端，不仅端子套容易拆拔取下，亦使取下端子套后的固定部的旋转调整无碍导线的连接。

【附图说明】

图1是本发明实施例中检测装置构造配置的示意图。

图2是本发明实施例的探针固定导接构造立体分解示意图。

图3是本发明实施例中探针固定导接构造的组合剖面示意图(一)。

图4是本发明实施例中探针固定导接构造的组合剖面示意图(二)。

图5是本发明实施例中另一探针导接实施例的检测装置构造配置示意图。

图6是本发明实施例中另一探针导接实施例示意图的剖面示意图。

【符号说明】