[发明专利]电子元件检测装置的探针固定导接构造有效
申请号: | 201610888686.1 | 申请日: | 2016-10-12 |
公开(公告)号: | CN107037244B | 公开(公告)日: | 2020-03-03 |
发明(设计)人: | 林芳旭 | 申请(专利权)人: | 万润科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/073 | 分类号: | G01R1/073 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 喻学兵 |
地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元件 检测 装置 探针 固定 构造 | ||
1.一种电子元件检测装置的探针固定导接构造,包括:
一探针座,可受驱动进行上、下位移,该探针座设有枢孔;
一探针,包括一针部及一固定部,并以该固定部设于该探针座的该枢孔;
一导线,该导线一端与该探针连接,另一端接设及传递信号至一检测仪器;
该探针座上表面在相隔该探针一间距下设有凹槽,凹槽的内侧壁相对应分别设有贯通并朝该枢孔的抵孔,及贯通并朝探针座外侧的通孔,该凹槽上方为开口状;一嵌块可自开口状上方取放,该嵌块设有前后贯通的一螺抵孔分别对应该探针座上该抵孔及该通孔,一螺抵件穿经该通孔,而螺经该嵌块上的该螺抵孔,至前端穿经该抵孔而抵及该探针的该固定部周缘。
2.如权利要求1所述电子元件检测装置的探针固定导接构造,其特征在于,该嵌块上的该螺抵孔水平设置且与垂直设置的固接孔相隔间距而不相交错贯通。
3.如权利要求1所述电子元件检测装置的探针固定导接构造,其特征在于,该探针座上设有多个探针,该探针座设有方形矩阵排列的多个枢孔,各探针各据矩阵的四角,每二探针各形成一方形矩阵的其中一直边,在位于方形矩阵相平行的二直边相对应的两外侧,在相隔各该直边一间距并与该直边平行下,分别各设有一长度超过该直边中二探针间宽度的该凹槽。
4.如权利要求1所述电子元件检测装置的探针固定导接构造,其特征在于,该嵌块为金属材质。
5.如权利要求1所述电子元件检测装置的探针固定导接构造,其特征在于,该嵌块呈矩形立方体。
6.如权利要求1所述电子元件检测装置的探针固定导接构造,其特征在于,该凹槽底部为盲底状,在该凹槽底部设有朝探针座底面贯通的固定孔,该嵌块上设有垂直设置并对应该固定孔的固接孔,该固接孔中设有内螺纹。
7.如权利要求1所述电子元件检测装置的探针固定导接构造,其特征在于,该嵌块被一螺固件螺设定位在该探针座的该凹槽中。
8.如权利要求1所述电子元件检测装置的探针固定导接构造,其特征在于,该导线与探针连接的一端设有端子套,该端子套嵌套于该探针的该固定部下端。
9.如权利要求7所述电子元件检测装置的探针固定导接构造,其特征在于,该导线与该探针连接的一端设有金属扣片,该金属扣片嵌夹于该螺固件与该探针座间。
10.如权利要求1所述电子元件检测装置的探针固定导接构造,其特征在于,该凹槽中相隔间距设有二嵌块。
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