[发明专利]一种小径管表面直道缺陷深度测量方法在审
| 申请号： | 201610785222.8 | 申请日： | 2016-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN106248797A | 公开（公告）日： | 2016-12-21 |
| 发明（设计）人： | 张红军;高磊;孟永乐;吕一楠;殷尊 | 申请（专利权）人： | 西安热工研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/11 | 分类号： | G01N29/11 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人： | 陆万寿 |
| 地址： | 710032 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种小径管表面直道缺陷深度测量方法，包括以下步骤：1)采用目视检测方法发现待测小径管表面的直道缺陷；2)清理待测小径管表面的铁锈及异物，并选取耦合剂及表面波探头；3)在待测小径管上沿轴向截取对比试块，再对比试块的表面开设深度为Nmm的人工线槽，并绘制对比试块的距离‑波幅曲线；4)通过表面波探头及超声探伤仪检测待测小径管，并根据检测的结果与步骤3)绘制的距离‑波幅曲线进行对比，判断待测小径管表面的直道缺陷深度是否大于等于Nmm，完成小径管表面直道缺陷深度的测量，该方法能够判断出小径管表面的直道缺陷是否大于等于允许的直道缺陷最大深度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 小径 表面 直道 缺陷 深度 测量方法 | ||
【主权项】：
一种小径管表面直道缺陷深度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：1)采用目视检测方法发现待测小径管表面的直道缺陷；2)清理待测小径管表面的铁锈及异物，并选取耦合剂及表面波探头，其中，表面波探头中透声楔的底面为与待测小径管表面相配合的凹面；3)在待测小径管上沿轴向截取对比试块，再对比试块的表面开设深度为Nmm的人工线槽，并往对比试块的表面涂覆耦合剂，然后通过表面波探头及超声探伤仪检测对比试块上的人工线槽，并根据检测的数据绘制距离‑波幅曲线；4)在待测小径管的表面涂覆耦合剂，再通过表面波探头及超声探伤仪检测待测小径管，并根据检测的结果与步骤3)绘制的距离‑波幅曲线进行对比，判断待测小径管表面的直道缺陷深度是否大于等于Nmm，完成小径管表面直道缺陷深度的测量。
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