[发明专利]一种基于光谱分析的偏振特性测试方法

摘要

本发明提供一种基于光谱分析的偏振特性测试方法，待测信号光通过λ/4延迟波片、起偏器进入偏振分析模块，根据实际测试需求设置合适的波长间隔；控制λ/4延迟波片同方向转动多次，在与初始位置的角度差逐渐增大至180°时停止；λ/4延迟波片在若干次转动完成后，记录光谱分析模块的光谱测试结果；λ/4延迟波片在完成多次转动后，利用记录的光谱测试数据结合λ/4延迟波片的波长相关延迟量、转动角度，计算得到待测信号光中每个波长点的斯托克斯矢量；旋转起偏器并重复以上步骤，计算得到物质在宽波段范围内多波长点的琼斯矩阵。本发明能够有效克服光学介质色散因素的影响，在一次独立测量中能够实现对信号光中的多波长点多偏振态进行分析测试。

主权项

一种基于光谱分析的偏振特性测试方法，其特征在于包括以下步骤：步骤一、待测信号光通过λ/4延迟波片(1)、第一起偏器(2)进入偏振分析模块(3)，根据实际测试需求设置合适的波长间隔，将待测波段分为n个波长点，并用δi表示λ/4延迟波片(1)在第i个波长点处对应的延迟量，i＝1...n；步骤二、控制λ/4延迟波片(1)同方向转动m次，在与初始位置的角度差逐渐增大至180°时停止；步骤三、λ/4延迟波片(1)在j次转动完成后，j＝1...m，λ/4延迟波片与初始位置的角度差用θj表示，记录光谱分析模块(3)的光谱测试结果，其中包括每个波长点对应的光功率值，用Iij表示在第j次转动完成后光谱测试结果中第i个波长点对应的光功率值；步骤四、λ/4延迟波片(1)在完成m次转动后，利用记录的光谱测试数据结合λ/4延迟波片的波长相关延迟量、转动角度，计算得到待测信号光中每个波长点的斯托克斯矢量，用(Si0 Si1 Si2 Si3)表示待测信号光中第i个波长点的斯托克斯矢量，其计算公式表示为：(Si0Si1Si2Si3)=12·Ti+·Ii1...Iij...IimT]]>其中Ti+为Ti的伪逆矩阵，Ti=1cos22θ1+sin22θ1·cosδisin2θ1·cos2θ1·(1-cosδi)-sin2θ1·sinδi............1cos22θj+sin22θj·cosδisin2θj·cos2θj·(1-cosδi)-sin2θj·sinδi............1cos22θm+sin22θm·cosδisin2θm·cos2θm·(1-cosδi)-sin2θm·sinδi.]]>