[发明专利]一种珠体位置缺陷检测方法及装置有效
申请号: | 201610726389.7 | 申请日: | 2016-08-25 |
公开(公告)号: | CN106447649B | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 杨艺;彭斌;钟克洪 | 申请(专利权)人: | 凌云光技术集团有限责任公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/181 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 100094 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明是关于一种珠体位置缺陷检测方法及装置,通过将训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域;在每个训练采样投影区域中,筛选出路径边缘对;连接相邻路径边缘对的中点,获取标准路径折线;将与训练珠体图像相匹配的待检测珠体图像划分为多个检测采样投影区域;在每个检测采样投影区域中,筛选出检测边缘对;当检测边缘对的中点到所述标准路径折线的距离大于缺陷阈值时,记录位置缺陷。在检测过程中,精细划分训练采样投影区域,得到标准路径折线,所述标准路径折线能够准确描述珠体的形状;然后将边缘对的中点作为检测目标,精确感知珠体上的检测目标是否发生位置的变化,提高珠体位置缺陷检测的精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 体位 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种珠体位置缺陷检测方法,其特征在于,珠体具有一致的宽度和不规则的延展路径,包括以下步骤:将训练珠体图像划分为多个训练采样投影区域;在每个训练采样投影区域中,确定相应的边缘点,将边缘点两两组合获得参考边缘对,并根据评价准则对所述参考边缘进行评价获得路径边缘对;连接相邻路径边缘对的中点,生成标准路径折线;将待检测珠体图像划分为多个检测采样投影区域,其中,所述待检测珠体图像与所述训练珠体图像相匹配;在每个检测采样投影区域中,确定相应的边缘点,将边缘点两两组合获得候选边缘对,并根据评价准则对所述候选边缘进行评价获得检测边缘对;当检测边缘对的中点到所述标准路径折线的距离大于缺陷阈值时,记录位置缺陷。
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