[发明专利]一种X射线图像传感器及校正图像干扰的方法有效
申请号: | 201610710009.0 | 申请日: | 2016-08-23 |
公开(公告)号: | CN106252371B | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | 于祥国;金利波;林言成 | 申请(专利权)人: | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 201201 上海市浦东新区张江*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种X射线图像传感器及校正图像干扰的方法,包括:每个像素连接两个TFT开关,像素行之间设计单条扫描线,像素列之间设计两条读出线,以实现一行像素分别被上下两侧扫描线独立控制;上侧读出电路负责亮场图像读取,下侧读出电路负责暗场图像读取。鉴于上下两侧读出操作是同步进行,只是空间物理位置相差一行,所以使用下一行像素单元中的暗场图像的图像灰阶校正当前行像素单元中的亮场图像的图像灰阶,可在不增加单独的暗场图像采集时间的情况下,校正基于时间、空间的其他干扰,有效提高图像质量。 | ||
搜索关键词: | 一种 射线 图像传感器 校正 图像 干扰 方法 | ||
【主权项】:
1.一种校正图像干扰的方法,其特征在于,所述校正图像干扰的方法至少包括:在曝光前,扫描驱动电路输出驱动时序,以清除像素单元中的残留电荷;停止输出驱动时序,进行曝光操作;待曝光结束后,扫描驱动电路输出驱动信号,对像素阵列中的亮场图像及暗场图像进行采集,通过同一驱动信号在采集当前行亮场图像的同时对上一行暗场图像进行采集;使用采集到的暗场图像校正采集到的亮场图像,以消除亮场图像中的时间干扰及空间干扰。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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