[发明专利]Ge‑Sb‑Se相变材料、相变存储器单元及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201610703472.2 申请日: 2016-08-22
公开(公告)号: CN106299113A 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 郭天琪;宋三年;沈兰兰;宋志棠 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 上海光华专利事务所31219 代理人: 余明伟
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种Ge‑Sb‑Se相变材料、相变存储器单元及其制备方法,Ge‑Sb‑Se相变材料为包括锗、锑、硒三种元素的相变材料,Ge‑Sb‑Se相变材料的化学式为GexSbySez,其中,20≤x≤50,30≤y≤70,5≤z≤25,且x+y+z=100。本发明提供的Ge‑Sb‑Se系列相变材料可以通过调节三种元素的含量得到不同结晶温度、电阻率和结晶激活能的存储材料,且该体系相变材料相变前后电阻差值大,具有非常强的可调性,从而根据实际所需提供特定的性能。本发明所述的Ge‑Sb‑Se相变薄膜材料,与传统的Ge2Sb2Te5相比,具有更好的热稳定性,更强的数据保持力,更快的结晶速度;本发明提供的相变存储材料的制备方法,工艺简单,便于精确控制材料成分。
搜索关键词: ge sb se 相变 材料 存储器 单元 及其 制备 方法
【主权项】:
一种Ge‑Sb‑Se相变材料,其特征在于,所述Ge‑Sb‑Se相变材料为包括锗、锑、硒三种元素的相变材料,所述Ge‑Sb‑Se相变材料的化学式为GexSbySez,其中,20≤x≤50,30≤y≤70,5≤z≤25,且x+y+z=100。
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