[发明专利]基于倍频半导体激光的气态元素汞浓度检测装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于倍频半导体激光的气态元素汞浓度检测装置，包括激光控制器、半导体激光器、光栅、光栅控制器、反射镜、第一凸透镜、BBO晶体、第二凸透镜、分光棱镜、可切换汞池安装座、参考汞池、零气气池、位移控制器、样品气池、干涉滤光片、探测器、信号分析器。本发明能对样品气池中汞气浓度进行测量，实现了对元素汞浓度的实时监测，满足工业汞排放监测需求。

主权项

基于倍频半导体激光的气态元素汞浓度检测装置，其特征在于，包括：激光控制器、半导体激光器、光栅、光栅控制器、反射镜、第一凸透镜、BBO晶体、第二凸透镜、分光棱镜、可切换汞池安装座、参考汞池、零气气池、位移控制器、样品气池、干涉滤光片、探测器、信号分析器；所述信号分析器设有信号输入端和三个信号输出端；所述信号分析器的信号输入端连接探测器的信号输出端；所述信号分析器的三个信号输出端分别连接激光控制器、光栅控制器和位移控制器的信号输入端；所述激光控制器的信号输出端连接半导体激光器的信号输入端；所述光栅固定于光栅控制器上；所述光栅控制器用于调整光栅偏摆角度；所述参考汞池和零气气池安装在可切换汞池安装座上；所述可切换汞池安装座的信号输入端连接位移控制器的信号输出端；所述可切换汞池安装座根据位移控制器发出的控制信号来控制参考汞池和零气气池的切换；所述半导体激光器发出的准直光束入射至光栅，经光栅衍射后的第零级光束入射至反射镜，经反射镜反射后的光束入射至第一凸透镜，经第一凸透镜汇聚后的光束聚焦于BBO晶体中，由BBO晶体出射的光束经过第二凸透镜准直后入射至分光棱镜，由分光棱镜分离出的紫外激光入射至参考汞池或零气气池，由参考汞池或零气气池出射的紫外激光依次经过样品气池和干涉滤光片后被探测器接收。