[发明专利]触控侦测方法有效
| 申请号： | 201610584827.0 | 申请日： | 2016-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN107153489B | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 周宜群;蔡明衡;陈许民 | 申请（专利权）人： | 联阳半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种触控侦测方法，包括经由处理单元的输出端输出第一信号；经由该处理单元的输入端接收第二信号，其中该第二信号的位准值对应于该第一信号的位准值、第一电容的第一电容值、及第二电容的第二电容值；以校正参数对于该第二信号的位准值的变化量执行校正运算，从而得到校正后变化量；若该校正后变化量大于门槛值，判断触控事件发生。 | ||
| 搜索关键词： | 侦测 方法 | ||
【主权项】：
一种用于触控侦测装置的触控侦测方法，其特征在于，该触控侦测装置包括处理单元，第一电容及第二电容，该第一电容的第一端耦接于该处理单元的输出端，该第一电容的第二端耦接于该处理单元的输入端及该第二电容的第一端，该第二电容的第二端耦接于地端，该触控侦测方法包括：经由该处理单元的该输出端输出第一信号；经由该处理单元的该输入端接收第二信号，其中该第二信号的位准值对应于该第一信号的位准值、该第一电容的第一电容值、及该第二电容的第二电容值；以校正参数对于该第二信号的位准值的变化量执行校正运算，从而得到校正后变化量；及若该校正后变化量大于门槛值，判断触控事件发生。
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