[发明专利]触控侦测方法

权利要求书

1.一种用于触控侦测装置的触控侦测方法，其特征在于，该触控侦测装置包括处理单元，第一电容及第二电容，该第一电容的第一端耦接于该处理单元的输出端，该第一电容的第二端耦接于该处理单元的输入端及该第二电容的第一端，该第二电容的第二端耦接于地端，该触控侦测方法包括：

经由该处理单元的该输出端输出第一信号；

经由该处理单元的该输入端接收第二信号，其中该第二信号的位准值对应于该第一信号的位准值、该第一电容的第一电容值、及该第二电容的第二电容值；

以校正参数对于该第二信号的位准值的变化量执行校正运算，从而得到校正后变化量；及

若该校正后变化量大于门槛值，判断触控事件发生；

其中该触控侦测装置对应于触控部位，且该校正参数对应于该触控部位的面积。

2.如权利要求1所述的触控侦测方法，其特征在于，其中该第一信号是第一类比信号，且该第二信号是第二类比信号。

3.如权利要求1所述的触控侦测方法，其特征在于，其中该触控事件对应于外部物体触碰该触控侦测装置，该外部物体具有第三电容值，该第二信号的位准值的变化量对应于该第一电容值、该第二电容值、该第三电容值及该第一信号的位准值。

4.如权利要求1所述的触控侦测方法，其特征在于，该触控侦测方法另包括：比较该第二信号的位准值及该第一信号的位准值；及

若该第二信号的位准值实质上不等于该第一信号的位准值的一半，则调整该第一电容值，从而使该第二信号的位准值实质上等于该第一信号的位准值的一半。

5.如权利要求1、2、3或4所述的触控侦测方法，其特征在于，其中该第一电容值实质上等于该第二电容值。

6.如权利要求1、2、3或4所述的触控侦测方法，其特征在于，其中该校正参数正比于该第一电容值。

7.如权利要求1、2、3或4所述的触控侦测方法，其特征在于，其中该校正参数正比于该第二电容值。

8.如权利要求1、2、3或4所述的触控侦测方法，其特征在于，该触控侦测方法另包括：

储存该校正参数于储存单元。

9.如权利要求1、2、3或4所述触控侦测方法，其特征在于，该触控侦测方法另包括：

执行计数器迭加操作，以进行下一轮触控侦测操作。