[发明专利]触控侦测方法

说明书

本发明公开了一种触控侦测方法，包括经由处理单元的输出端输出第一信号；经由该处理单元的输入端接收第二信号，其中该第二信号的位准值对应于该第一信号的位准值、第一电容的第一电容值、及第二电容的第二电容值；以校正参数对于该第二信号的位准值的变化量执行校正运算，从而得到校正后变化量；若该校正后变化量大于门槛值，判断触控事件发生。

技术领域

本发明涉及一种触控侦测方法，尤其涉及一种用于触控侦测装置且可执行校正运算的触控侦测方法。

背景技术

目前的触控侦测装置中，是使用输出信号执行电容充电，再接收对应于电容放电的输入信号，判断是否发生触控事件。为了执行充电、放电的操作，只可使用例如是方波的数字信号，因此不利于滤除杂噪的操作，导致信噪比(signal-to-noise ratio；SNR)无法提高。此外，触控面板上的各部位的触控灵敏度的差异，也常导致触控手势的判读失败。举例来说，如果触控面板的各触控部位的面积相异，则对应的触控信号的变化量常会随之相异，因此造成各触控部位之间的触控效果不良，从而常导致触控手势的判读失败，不利于使用者体验与产品竞争力。因此，本领域实在须要一解决方案以提高触控的功效。

发明内容

本发明实施例提供一种用于触控侦测装置的触控侦测方法。该触控侦测装置包括处理单元，第一电容及第二电容。该第一电容的第一端耦接于该处理单元的输出端，该第一电容的第二端耦接于该处理单元的输入端及该第二电容的第一端，该第二电容的第二端系耦接于地端。该触控侦测方法包括经由该处理单元的该输出端输出第一信号；经由该处理单元的该输入端接收第二信号，其中该第二信号的位准值对应于该第一信号的位准值、该第一电容的第一电容值、及该第二电容的第二电容值；以校正参数对于该第二信号的位准值的变化量执行校正运算，从而得到校正后变化量；及若该校正后变化量大于门槛值，判断触控事件发生。

附图说明

图1是本发明实施例的触控侦测装置的电路示意图。

图2是本发明实施例中触控侦测方法的流程图。

图3是图1的实施例的触控侦测装置发生触控事件时的电路示意图。

图4是本发明实施例的触控面板的触控部位的示意图。

图5是本发明实施例中的处理单元的内部功能方块示意图。

图6是本发明实施例的触控侦测方法的流程图。

其中，附图标记说明如下：

100 触控侦测装置

C1 第一电容

C2 第二电容

Cx 第三电容

Cv1 第一电容值

Cv2、Cv21、Cv2i 第二电容值

Cvx 第三电容值

c11、c21 第一端

c12、c22 第二端

Va1、Va2、Va21、Va2i 位准值

Sa1 第一信号