[发明专利]一种硅太阳能电池的湿法刻蚀方法及其使用的水膜溶液有效
申请号: | 201610559335.6 | 申请日: | 2016-07-15 |
公开(公告)号: | CN105932113B | 公开(公告)日: | 2017-08-01 |
发明(设计)人: | 陈曦;王栩生;邢国强 | 申请(专利权)人: | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0236;H01L21/306 |
代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙)32251 | 代理人: | 陆金星 |
地址: | 215129 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅太阳能电池的湿法刻蚀方法,包括水膜保护步骤和刻蚀步骤,(1) 水膜保护步骤采用水膜溶液在硅片的扩散面上形成水膜保护层,该水膜保护层一直持续存在,直到硅片完成刻蚀步骤;所述水膜溶液中H+离子的浓度大于10‑7mol/L,水膜溶液的粘度大于同等条件下的水的粘度;(2) 刻蚀步骤硅片进入刻蚀模块,刻蚀背面和边缘的PN结,在刻蚀模块中,硅片采用漂浮在刻蚀液上的方式进行刻蚀。本发明大大提升了酸刻蚀的刻蚀量,且可以应用于现有设备和工艺流程上,取得了意想不到的效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 太阳能电池 湿法 刻蚀 方法 及其 使用 溶液 | ||
【主权项】:
一种硅太阳能电池的湿法刻蚀方法,包括水膜保护步骤和刻蚀步骤,其特征在于:(1) 水膜保护步骤:采用水膜溶液在硅片的扩散面上形成水膜保护层,该水膜保护层一直持续存在,直到硅片完成刻蚀步骤;所述水膜溶液中H+离子的浓度大于10‑7mol/L,水膜溶液的粘度大于同等条件下的水的粘度;(2) 刻蚀步骤:硅片进入刻蚀模块,刻蚀背面和边缘的PN结,在刻蚀模块中,硅片采用漂浮在刻蚀液上的方式进行刻蚀;所述步骤(2)中,硅片背面的刻蚀深度大于等于7微米;所述水膜溶液中H+离子的浓度小于等于3mol/L,且大于10‑7mol/L;水膜溶液的粘度为2~15厘泊。
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H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
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