[发明专利]基于混合自适应水平集模型与多通道结合的TFT LCD mura缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201610529870.7 | 申请日： | 2016-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN106157310B | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 李勃;朱赛男;董蓉;王秀;何玉婷;史德飞 | 申请（专利权）人： | 南京汇川图像视觉技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/36;G06K9/32;G06K9/46;G06K9/40;G06T7/11 |
| 代理公司： | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人： | 蒋海军 |
| 地址： | 211135 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于混合自适应水平集模型与多通道结合的TFT LCD mura缺陷检测方法，属于LCD mura缺陷机器视觉检测技术领域。本发明提出一种基于融合全局信息和局部信息的混合自适应模型的mura检测方法。该混合自适应模型能够提高曲线演化速度并有效克服背景灰度不均干扰，而且能够在靠近目标区域自适应减小，防止过度收敛，实现弱边缘的准确分割。此外，本发明提出一种基于灰度图和s通道图像的多通道融合的检测方案以兼顾不同类型的mura检测。本发明能够准确提取ROI区域并对其纹理背景进行抑制，利用自适应模型克服背景灰度不均的干扰和弱边缘对比度过低的困难，实现mura缺陷边缘的准确分割。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 混合 自适应 水平 模型 通道 结合 tft lcd mura 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.基于混合自适应水平集模型与多通道结合的TFT LCD mura缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤一、图像采集，具体为在低亮度环境中采集LCD屏幕图像，采集到的原始彩色图像为Mrgb(x)；步骤二、对步骤一获得的原始彩色图像Mrgb(x)进行ROI区域分割与角度矫正，获得角度矫正后的ROI区域彩色图像Iroi(x)；步骤三、提取步骤二所得ROI区域彩色图像Iroi(x)的灰度图G(x)，以及ROI区域彩色图像Iroi(x)的hsv色彩空间的s通道图像S(x)，用于后续图像处理；步骤四、利用二维DFT对步骤三中提取的多色彩通道进行背景抑制，分别得到背景抑制后的单通道图像I(x)；步骤五、利用混合自适应水平集模型对步骤四所得的背景抑制后单通道图像I(x)进行mura缺陷的分割；步骤六、对步骤五所得的分割结果进行结果融合与显示。
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