[发明专利]等离子体增强化学气相淀积腔室、设备及其控制方法有效
申请号: | 201610494836.0 | 申请日: | 2016-06-29 |
公开(公告)号: | CN106119812B | 公开(公告)日: | 2018-09-11 |
发明(设计)人: | 刘训春 | 申请(专利权)人: | 江苏鲁汶仪器有限公司 |
主分类号: | C23C16/50 | 分类号: | C23C16/50;C23C16/52 |
代理公司: | 北京得信知识产权代理有限公司 11511 | 代理人: | 袁伟东;崔建丽 |
地址: | 221300 江苏省徐*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开一种等离子体增强化学气相淀积腔室、设备及其控制方法,该等离子增强化学气相淀积设备,至少包括射频电源和等离子体增强化学气相淀积腔室,其中,等离子体增强化学气相淀积腔室具有上盖、进气管、进气嘴、进气口、匀气室、腔室外壳和载片下电极。进气口位于上盖中并与下方的匀气室相连通,进气管通过进气嘴与进气口相连通,射频电源的一端与载片下电极相连接,另一端接地,进气管、进气嘴、上盖、和匀气室均接地。本发明不仅避免了进气处粉末的产生,而且可灵活地应用于需要增加薄膜与衬底粘附性和不希望产生晶格损伤等各种不同的场合。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 增强 化学 气相淀积腔室 设备 及其 控制 方法 | ||
【主权项】:
1.一种等离子增强化学气相淀积设备,至少包括射频电源和腔室,其中所述腔室具有上盖、进气管、进气嘴、进气口、匀气室、腔室外壳和载片下电极,其中,进气口位于上盖中并与下方的匀气室相连通,进气管通过进气嘴与进气口相连通,其特征在于,所述射频电源的一端与所述载片下电极相连接,另一端接地,所述进气管、所述进气嘴、所述上盖、和所述匀气室均接地,还包括电感器和开关,所述开关与所述电感器串联,所述电感器的一端与所述载片下电极相连接,所述电感器的另一端接地。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的