[发明专利]用于∑-△调制器的内建自测试电路

摘要

一种用于∑‑△调制器的内建自测试(BIST)电路，与处理器和∑‑△调制器(SDM)连接并且包括求均值电路、参考信号发生器和比较器。求均值电路计算SDM输出信号的一组位信号之和在一段时间内的均值，并生成均值SDM信号。参考信号发生器基于SDM输入信号来生成参考SDM信号。比较器将均值SDM和参考SDM信号的电压电平与阈值进行比较，并且基于该比较而生成测试输出信号。

主权项

一种内建自测试BIST电路，与∑‑△调制器SDM连接用于测试所述SDM，其中所述SDM接收来自处理器的SDM输入信号并基于所述SDM输入信号来生成SDM输出信号，其中所述BIST电路接收来自所述SDM的所述SDM输出信号并接收来自所述处理器的所述SDM输入信号，并且其中所述SDM输出信号包括含第一位信号及第二位信号的位信号组，所述BIST电路包括：求均值电路，用于接收所述位信号组，计算所述位信号组的和的平均值，并且生成均值SDM信号，其中所述均值SDM信号的电压电平等于所述位信号组的所述和的所述平均值；参考信号发生器，用于接收所述SDM输入信号并基于所述SDM输入信号来生成参考SDM信号；以及比较电路，与所述求均值电路和所述参考信号发生器连接，用于(i)分别接收所述均值SDM信号和所述参考SDM信号，(ii)将所述均值SDM信号的所述电压电平与所述参考SDM信号的电压电平进行比较，并且(iii)基于阈值以及所述均值SDM信号和所述参考SDM信号的所述电压电平的差值来生成测试输出信号。