[发明专利]一种基于测量精度的电阻抗检测用电极接触状态检测方法有效
| 申请号： | 201610445420.X | 申请日： | 2016-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN105997072B | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 史学涛;董秀珍;祁琦;李衡;尤富生;季振宇;付峰;刘锐岗;夏军营;刘本源 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军第四军医大学 |
| 主分类号： | A61B5/053 | 分类号： | A61B5/053 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 王霞 |
| 地址： | 710032 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于测量精度的电阻抗检测用电极接触状态检测方法，属于生物电阻抗成像技术与应用领域。该方法利用一段时间内成像系统采集的原始传输阻抗数据，通过统计分析，获取各测量通道的相对测量精度，再通过进一步的运算分析，获得与各测量及激励电极对相关的平均测量精度，并根据该平均测量精度所在范围检测出电极与皮肤的接触状态。本发明提供的方法可实时、快速、准确地检测电极接触质量，使操作人员及时、快速排除电极连接异常成为可能，也为连续电阻抗数据采集质量的评估提供了参考依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 测量 精度 阻抗 检测 用电 接触 状态 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于测量精度的电阻抗检测用电极接触状态检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)利用电阻抗测量系统采集传输阻抗数据，获取一段时间内各通道的原始数据，各通道内包括一对激励电极与一对测量电极；2)统计分析该段时间内各通道的传输阻抗的相对测量精度，建立相对精度矩阵，分别计算测量电极对和激励电极对的相对精度矩阵；3)对比精度矩阵中的各元素，当相对精度超过设定的下限阈值或上限阈值时，将对应电极的状态计数值增加1，根据各电极的状态计数值，检测得到各电极的接触状态。
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