[发明专利]一种场效应管MOS器件在审
申请号: | 201610391408.5 | 申请日: | 2016-06-06 |
公开(公告)号: | CN107464845A | 公开(公告)日: | 2017-12-12 |
发明(设计)人: | 杜蕾 | 申请(专利权)人: | 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L29/423 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人: | 许静,安利霞 |
地址: | 100871 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种场效应管MOS器件,包括P型衬底、设置于P型衬底上的第一P阱区和多晶硅层,其中多晶硅层形成为沿第一方向的第一中心线相对称的结构;相对于第一中心线,多晶硅层包括位于第一中心线两侧的第一部分、第二部分以及位于第一部分和第二部分之间的第三部分,其中第一部分覆盖于第一场氧层上,第二部分覆盖于第二场氧层上;第三部分与P型衬底之间形成第一栅氧层;该MOS器件还包括分别设置于多晶硅层两侧且关于第一中心线对称分布、位于P型衬底上的第一N阱区和第二N阱区,其中第一场氧层位于第一N阱区上,第二场氧层位于第二N阱区上;本发明解决了当栅极接入高电压后,场氧寄生器件也会被导通,影响预期功能的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 场效应 mos 器件 | ||
【主权项】:
一种场效应管MOS器件,其特征在于,包括:P型衬底、设置于所述P型衬底上的第一P阱区和多晶硅层,其中所述多晶硅层形成为沿第一方向的第一中心线相对称的结构;相对于所述第一中心线,所述多晶硅层包括位于所述第一中心线两侧的第一部分、第二部分以及位于所述第一部分和所述第二部分之间的第三部分,其中所述第一部分覆盖于第一场氧层上,所述第二部分覆盖于第二场氧层上;所述第三部分与所述P型衬底之间形成第一栅氧层;所述MOS器件还包括:分别设置于所述多晶硅层两侧且关于所述第一中心线对称分布、位于所述P型衬底上的第一N阱区和第二N阱区,其中所述第一场氧层位于第一N阱区上,所述第二场氧层位于所述第二N阱区上;关于所述第一中心线对称分布的第一N型重掺杂区域、第二N型重掺杂区域,所述第一N型重掺杂区域位于所述第一N阱区内并与所述第一场氧层连接,所述第二N型重掺杂区域位于所述第二N阱区内并与所述第二场氧层连接。
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