[发明专利]多频电容耦合等离子体刻蚀腔在审
申请号: | 201610324272.6 | 申请日: | 2010-04-06 |
公开(公告)号: | CN105887050A | 公开(公告)日: | 2016-08-24 |
发明(设计)人: | 阿列克谢·马拉赫塔诺夫;拉金德尔·德辛德萨;越石光;安德里亚斯·费舍尔 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | C23C16/509 | 分类号: | C23C16/509;H01J37/32 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 樊英如;杨学春 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 与气体联用的等离子体处理系统。该等离子体处理系统包括第一电极、第二电极、气体输入口、功率源和无源电路。所述气体输入口可操作地在所述第一电极和所述第二电极之间提供所述气体。所述功率源可操作地将在所述第一电极和所述第二电极之间的所述气体激发成等离子体。所述无源电路耦合于所述第二电极并被配置为调节所述第二电极的阻抗、电势和直流偏压中的一个或多个。所述无源射频电路包括与电感器并联设置的电容器。 | ||
搜索关键词: | 电容 耦合 等离子体 刻蚀 | ||
【主权项】:
用于等离子处理半导体衬底的等离子体处理系统,所述等离子体处理系统包括:下电极,在等离子处理期间在其上支撑有半导体衬底;围绕所述下电极的下接地延伸环;上电极;围绕所述上电极的上接地延伸环;气体输入口,其可操作地在所述下电极和所述上电极之间提供所述气体;连接于所述下电极的射频功率源,其可操作地将在所述下电极和所述上电极之间的所述气体激发成等离子体;和无源射频电路,其被耦合到所述上电极并包括与电感器并联设置的可变电容器,其中所述无源射频电路被配置为:通过改变所述可变电容器的电容来调节所述上电极的阻抗、电势和直流偏压中的一个或多个来优先提高所述半导体衬底中心的衬底蚀刻率,以及通过改变所述可变电容器的电容,控制第一射频电路,连接所述下电极和所述下接地延伸环;控制第二射频电路,连接所述上电极和所述上接地延伸环。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的