[发明专利]基于半导体制冷装置的LM-80老化测试系统及控制方法在审
| 申请号： | 201610304154.9 | 申请日： | 2016-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN105974230A | 公开（公告）日： | 2016-09-28 |
| 发明（设计）人： | 韩丽芬 | 申请（专利权）人： | 倍科质量技术服务（东莞）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/44 |
| 代理公司： | 深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247 | 代理人： | 胡朝阳;尹彦 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于半导体制冷装置的LM‑80老化测试系统，包括：测试箱和设于测试箱内的控制器，测试箱内还设有箱体温度调节组件和灯壳温度调节组件。本发明还提出了一种上述LM‑80老化测试系统的控制方法。本发明能自动控制环境温度和灯壳温度，测试效率高且结果精确。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 半导体 制冷 装置 lm 80 老化 测试 系统 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种基于半导体制冷装置的LM‑80老化测试系统，包括：测试箱和设于测试箱内的控制器，其特征在于，所述测试箱内还设有箱体温度调节组件和灯壳温度调节组件；所述箱体温度调节组件包括：与所述控制器连接的箱体温度感应器和加热棒，所述控制器接收箱体温度感应器的检测信号，并控制加热棒的工作状态；所述灯壳温度调节组件包括：与所述控制器连接的灯壳温度感应器和半导体制冷装置，所述控制器接收箱体温度感应器的检测信号，并控制半导体制冷装置的工作状态。
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