[发明专利]一种基于测试壳的IP核测试方法有效
| 申请号： | 201610289946.3 | 申请日： | 2016-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN107345997B | 公开（公告）日： | 2020-04-14 |
| 发明（设计）人： | 冯燕;陈岚;彭智聪 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 王宝筠 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种基于测试壳的IP核测试方法，从IP核测试图形中提取扫描链扫描输入SI和初级输入PI，根据测试指令，通过测试壳输入端口装载将SI测试数据装载到IP核的扫描链，将PI测试数据通过测试壳的WBR单元施加到IP核的输入端口，并卸载由SI测试数据经过IP核的内部逻辑电路后转换得到的SO测试数据以及PO测试数据，将SO测试数据与IP核测试图形中的SO图形进行测量比对，并将PO测试数据与IP核测试图形中的PO图形进行测量比较。因此能够使用IP核的测试图形，得到基于测试壳的IP核测试数据，并与测试图形中的相应图形进行比对。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 测试 ip 方法 | ||
【主权项】：
一种基于测试壳的IP核测试方法，其特征在于，包括：从IP核测试图形中提取扫描链扫描输入SI测试数据和初级输入PI；根据测试指令，通过测试壳输入端口装载所述SI测试数据和所述PI测试数据，其中，所述SI测试数据通过所述输入端口后进入所述IP核的扫描链，所述PI测试数据通过所述输入端口后，被所述测试壳的WBR单元施加到所述IP核的输入端口；根据所述测试指令，通过所述测试壳的输出端口，卸载SO测试数据和PO测试数据，所述SO测试数据由所述SI测试数据经过所述IP核的内部逻辑电路后转换得到，所述PO测试数据由所述PI测试数据经过所述IP核的内部逻辑电路后转换得到；将所述SO测试数据与所述IP核测试图形中的SO图形进行测量比对，并将所述PO测试数据与所述IP核测试图形中的PO图形进行测量比对，其中，所述SO测试数据由所述IP核的扫描链输出到所述输出端口，所述PO测试数据被所述WBR单元从所述IP核的输出端口捕获到所述测试壳的输出端口。
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