[发明专利]一种基于测试壳的IP核测试方法

说明书

本申请提供了一种基于测试壳的IP核测试方法，从IP核测试图形中提取扫描链扫描输入SI和初级输入PI，根据测试指令，通过测试壳输入端口装载将SI测试数据装载到IP核的扫描链，将PI测试数据通过测试壳的WBR单元施加到IP核的输入端口，并卸载由SI测试数据经过IP核的内部逻辑电路后转换得到的SO测试数据以及PO测试数据，将SO测试数据与IP核测试图形中的SO图形进行测量比对，并将PO测试数据与IP核测试图形中的PO图形进行测量比较。因此能够使用IP核的测试图形，得到基于测试壳的IP核测试数据，并与测试图形中的相应图形进行比对。

技术领域

本申请涉及片上系统(System-on-Chip，SoC)领域，尤其涉及一种基于测试壳的IP核测试方法。

背景技术

随着集成电路工艺的进步和人们对集成电路性能以及上市时间要求的不断提高，片上系统技术已经成为当今集成电路的发展趋势和技术主流。整个SoC芯片的测试开发需要各个知识产权(Intellectual Property，IP)核的测试信息，这要求IP提供者向SoC集成者提供关于IP的内部可测性设计(Design For Test，DFT)策略、测试模式和相应的测试协议、故障覆盖率及测试图形等。在基于扫描链的测试图形中，测试数据按规定的测试协议完成相应的测试建立、测试数据加载、卸载、捕获等操作。

如图1所示，IP核测试图形包括测试时钟CLK、测试复位RSTN、IP核内部扫描链扫描使能(Scan Enable，SE)、IP核内部扫描链扫描输入(Scan Input，SI)、IP核内部扫描链扫描输出(Scan Output，SO)、IP核初级输入(Primary Input，PI)、IP核初级输出(PrimaryOutput，PO)等测试数据。阶段(1)扫描输入即进行测试图形的扫描链测试数据装载，阶段(5)扫描输出即进行测试图形的扫描链测试数据卸载，此时扫描使能信号有效，对于第一个测试图形，不存在扫描链测试数据卸载，对于第二个直至最后一个测试图形，在扫描链测试数据的移入的同时进行对上次扫描链捕获的测试结果输出和测量过程，对于最后一个测试图形，仅进行扫描链测试数据的卸载；阶段(2)并行测量指在所有初级输入施加测试图形的输入，同时在所有初级输出进行测试图形的输出及测试数据的测量对比；阶段(3)并行捕获是指将内部逻辑的测试结果捕获(Capture)到扫描链中，从而方便在下次的移位操作中将捕获的测试数据卸载，此时，扫描使能信号无效，对于第一个测试图形，不存在寄存器对内部逻辑输出的捕获过程；阶段(4)链首输出即对测试壳扫描链扫描输出的第一个测试数据进行测量对比(图1中所有测量操作发生在测试时钟脉冲之后，因此，在下一个测试图形扫描输入开始之前应先进行链首输出)。

在IP核外围环绕基于IEEE1500标准的测试壳后，所有初级输入和初级输出都对应一个WBR单元(cell)，无法在初级输入和初级输出直接控制和观测IP核，因此，原本由IP核初级输入端口施加的测试数据将改由测试壳中的测试壳串行端口(Wrapper Serial Port，WSP)或测试壳并行端口(Wrapper Parallel Port，WPP)施加，同样，原本由IP核初级输出端口输出的测试数据也改由WSP或WPP输出，并进行测量对比。因此，图1所示的测试协议以及测试数据的次序将发生变化，可见，如何使用IP核的测试图形，对设置有测试壳的IP核进行测试，成为目前亟待解决的问题。

发明内容

本申请提供了一种基于测试壳的IP核测试方法，目的在于解决如何使用IP核的测试图形，对设置有测试壳的IP核进行测试的问题。

为了实现上述目的，本申请提供了以下技术方案：

一种基于测试壳的IP核测试方法，包括：

从IP核测试图形中提取扫描链扫描输入SI测试数据和初级输入PI；