[发明专利]一种基于测试壳的IP核测试方法

权利要求书

1.一种基于测试壳的IP核测试方法，其特征在于，包括：

从IP核测试图形中提取扫描链扫描输入SI测试数据和初级输入PI；

根据测试指令，通过测试壳输入端口装载所述SI测试数据和所述PI测试数据，其中，所述SI测试数据通过所述输入端口后进入所述IP核的扫描链，所述PI测试数据通过所述输入端口后，被所述测试壳的WBR单元施加到所述IP核的输入端口；

根据所述测试指令，通过所述测试壳的输出端口，卸载SO测试数据和PO测试数据，所述SO测试数据由所述SI测试数据经过所述IP核的内部逻辑电路后转换得到，所述PO测试数据由所述PI测试数据经过所述IP核的内部逻辑电路后转换得到；

将所述SO测试数据与所述IP核测试图形中的SO图形进行测量比对，并将所述PO测试数据与所述IP核测试图形中的PO图形进行测量比对，其中，所述SO测试数据由所述IP核的扫描链输出到所述输出端口，所述PO测试数据被所述WBR单元从所述IP核的输出端口捕获到所述测试壳的输出端口；

其中，所述IP为知识产权，所述SI为扫描输入，所述SO为扫描输出，所述PI为初级输入，所述PO为初级输出，所述WBR为测试壳边界寄存器。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述通过测试壳输入端口装载所述SI测试数据和所述PI测试数据之前，还包括：

向所述测试壳中移入测试指令；

所述测试指令为串行测试存取，所述通过测试壳输入端口装载所述SI测试数据和所述PI测试数据包括：

通过所述测试壳中的测试壳串行输入WSI输入所述SI测试数据和所述PI测试数据，其中，所述WSI为测试壳串行输入。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过测试壳中的测试壳串行输入WSI输入所述SI测试数据和所述PI测试数据包括：

在IP核内部扫描链扫描使能SE信号和测试壳寄存器移位控制信号ShiftWR有效，其他测试壳串行控制信号无效的情况下，根据WBR的数据通路装载所述SI测试数据和所述PI测试数据，靠近测试壳串行输出WSO的WBR单元的测试数据最先装载，靠近测试壳串行输入WSI的WBR单元的测试数据最后装载，装载的测试数据包括：N_output个无关值、N_ff个所述SI测试数据和N_input个所述PI测试数据，其中，N_output为IP核功能输出端口的数目，N_ff为IP核内部扫描链扫描单元的数目，N_input为IP核功能输入端口的数目，其中，所述WSO为测试壳串行输出。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过测试壳中的测试壳串行输入WSI输入所述SI测试数据和所述PI测试数据包括：

在IP核内部扫描链扫描使能SE信号和测试壳寄存器移位控制信号ShiftWR有效，其他测试壳串行控制信号无效的情况下，根据WBR的数据通路装载所述SI测试数据和所述PI测试数据，靠近测试壳串行输出WSO的WBR单元的测试数据最先装载，靠近测试壳串行输入WSI的WBR单元的测试数据最后装载，装载的测试数据包括：个无关值、N_ff个所述SI测试数据和N_input个所述PI测试数据，其中，N_max为所述IP核最长扫描链的长度，为所述IP核最长输入扫描链的长度，其中，所述SE为扫描使能。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过所述测试壳的输出端口，卸载SO测试数据和PO测试数据包括：

如果所述测试指令为串行测试存取，通过所述测试壳中的测试壳串行输出WSO卸载所述SO测试数据和所述PO测试数据。