[发明专利]空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法有效
| 申请号： | 201610252409.1 | 申请日： | 2016-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN105913438B | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 范静涛;戴琼海;鲍家坤 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/30 |
| 代理公司： | 11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 张大威<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法，包括以下步骤：A：在关闭空间光调制器的屏幕背光条件下，拍摄不同测光照明条件下保护膜的图像；B：对每张所述图像选取光照均匀区域进行自适应阈值二值化处理得到二值化图像；C：对每张所述二值化图像均进行膨胀和腐蚀；D：对所有经过膨胀和腐蚀的所述二值化图像进行合并，得到所述保护膜的损伤提取。本发明具有如下优点：区分保护膜损伤与屏幕缺陷，提高检测准确性和精度。 | ||
| 搜索关键词： | 空间 调制器 缺陷 检测 保护膜 损伤 提取 方法 | ||
【主权项】：
1.一种空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法，其特征在于，包括以下步骤：/nA：在关闭空间光调制器的屏幕背光条件下，拍摄不同侧光照明条件下保护膜的图像；/nB：对每张所述图像选取光照均匀区域进行自适应阈值二值化处理得到二值化图像，其中，选取所有的所述图像光照均匀区域，运用自适应的阈值求取方法对所述图像进行二值化处理，其中，所述自适应的阈值求取方法包括动量矩不变方法、最小方差方法和平均值平均方法；/nC：对每张所述二值化图像均进行膨胀和腐蚀，其中，对所述二值化图像进行m次膨胀与n次腐蚀，其中m和n均为自然数，且m>n；/nD：对所有经过膨胀和腐蚀的所述二值化图像进行合并，得到所述保护膜的损伤提取的图像，其中，所有经过膨胀和腐蚀的所述二值化图像的前景部分合并为一个整体图像。/n
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