[发明专利]半导体装置及制造其的方法在审

专利信息
申请号: 201610242044.4 申请日: 2016-04-19
公开(公告)号: CN106356361A 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 施旭强;谢盛祺;陈建桦;李德章 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/522 分类号: H01L23/522;H01L21/768
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 代理人: 林斯凯
地址: 中国台湾高雄*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明涉及半导体装置及制造其的方法。半导体装置包括半导体衬底、第一电容器和第二电容器。该第一电容器包括第一导电层、第一绝缘层和第二导电层。该第一导电层布置在该衬底上。该第一绝缘层布置在该第一导电层上且具有第一周缘。该第二导电层布置在该第一绝缘层上且具有第二周缘。该第二电容器包括第三导电层、第二绝缘层和该第二导电层。该第二绝缘层布置在该第二导电层上且具有第三周缘。该第三导电层布置在该第二绝缘层上且具有第四周缘。该第一、第二、第三和第四周缘彼此对齐。
搜索关键词: 半导体 装置 制造 方法
【主权项】:
一种半导体装置,其包括:半导体衬底;第一电容器,其包括第一导电层、第一绝缘层和第二导电层,该第一绝缘层具有第一周缘,且该第二导电层具有第二周缘;以及第二电容器,其包括第三导电层、第二绝缘层和该第二导电层,该第二绝缘层具有第三周缘,且该第三导电层具有第四周缘,其中该第一、第二、第三和第四周缘中的每一者的至少一侧彼此对齐。
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