[发明专利]减小毫米波AlGaN/GaN HEMT栅寄生电容的方法有效
申请号: | 201610158793.9 | 申请日: | 2016-03-18 |
公开(公告)号: | CN105679670B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 吴少兵;高建峰 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | H01L21/335 | 分类号: | H01L21/335 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 张弛 |
地址: | 210016 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种减小毫米波AlGaN/GaN HEMT栅寄生电容的方法,所述微波毫米波芯片的主要结构包括SiC衬底、外延沟道、势垒层、源漏电极及T型栅,T型栅结构采用电子束一次成型制备,所述减小毫米波AlGaN/GaN HEMT栅寄生电容的方法包括以下步骤:剥离栅金属,对栅结构进行钝化,钝化的致密介质具有耐BOE溶液腐蚀特性;生长电容介质;采用光刻工艺使栅暴露出来而电容结构被胶保护;利用BOE溶液对电容介质进行腐蚀,控制时间去除栅两侧的电容介质并保留钝化介质。将不同的介质作钝化和电容介质,以选择性的去处栅两侧的寄生电容,该方法用致密度高的高温SiN介质做栅钝化,利用致密度低的低温SiN介质做电容,依靠做栅钝化和做电容两者的BOE腐蚀速率差异去除栅两侧的电容介质减小栅寄生电容。 | ||
搜索关键词: | 减小 毫米波 algan gan hemt 寄生 电容 方法 | ||
【主权项】:
一种减小毫米波AlGaN/GaN HEMT栅寄生电容的方法,所述毫米波芯片的外延材料上生长有介质,所述介质包括SiC衬底、外延沟道、势垒层、源漏电极及T型栅,所述T型栅结构采用电子束一次成型制备,其特征在于:所述减小毫米波AlGaN/GaN HEMT栅寄生电容的方法包括以下步骤:1)、剥离栅金属,对栅结构进行钝化,钝化的致密介质具有耐BOE溶液腐蚀特性;2)、生长电容介质;3)、采用光刻工艺使栅暴露出来而电容结构被胶保护;4)、利用BOE溶液对电容介质进行腐蚀,控制时间去除栅两侧的电容介质并保留钝化介质。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造