[发明专利]减小毫米波AlGaN/GaN HEMT栅寄生电容的方法有效

专利信息
申请号: 201610158793.9 申请日: 2016-03-18
公开(公告)号: CN105679670B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 吴少兵;高建峰 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十五研究所
主分类号: H01L21/335 分类号: H01L21/335
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 张弛
地址: 210016 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种减小毫米波AlGaN/GaN HEMT栅寄生电容的方法,所述微波毫米波芯片的主要结构包括SiC衬底、外延沟道、势垒层、源漏电极及T型栅,T型栅结构采用电子束一次成型制备,所述减小毫米波AlGaN/GaN HEMT栅寄生电容的方法包括以下步骤:剥离栅金属,对栅结构进行钝化,钝化的致密介质具有耐BOE溶液腐蚀特性;生长电容介质;采用光刻工艺使栅暴露出来而电容结构被胶保护;利用BOE溶液对电容介质进行腐蚀,控制时间去除栅两侧的电容介质并保留钝化介质。将不同的介质作钝化和电容介质,以选择性的去处栅两侧的寄生电容,该方法用致密度高的高温SiN介质做栅钝化,利用致密度低的低温SiN介质做电容,依靠做栅钝化和做电容两者的BOE腐蚀速率差异去除栅两侧的电容介质减小栅寄生电容。
搜索关键词: 减小 毫米波 algan gan hemt 寄生 电容 方法
【主权项】:
一种减小毫米波AlGaN/GaN HEMT栅寄生电容的方法,所述毫米波芯片的外延材料上生长有介质,所述介质包括SiC衬底、外延沟道、势垒层、源漏电极及T型栅,所述T型栅结构采用电子束一次成型制备,其特征在于:所述减小毫米波AlGaN/GaN HEMT栅寄生电容的方法包括以下步骤:1)、剥离栅金属,对栅结构进行钝化,钝化的致密介质具有耐BOE溶液腐蚀特性;2)、生长电容介质;3)、采用光刻工艺使栅暴露出来而电容结构被胶保护;4)、利用BOE溶液对电容介质进行腐蚀,控制时间去除栅两侧的电容介质并保留钝化介质。
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