[发明专利]具有磁分析功能的X射线衍射装置在审
| 申请号： | 201610133044.0 | 申请日： | 2016-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN105738391A | 公开（公告）日： | 2016-07-06 |
| 发明（设计）人： | 王利晨;雷雨;许志一;赵莹莹 | 申请（专利权）人： | 王利晨;雷雨;许志一;赵莹莹 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01R33/12 |
| 代理公司： | 北京市正见永申律师事务所 11497 | 代理人： | 黄小临;冯玉清 |
| 地址： | 102442 北京市房山区长阳镇*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及具有磁分析功能的X射线衍射装置。一种X射线衍射装置可包括：样品台，其上用于固定载玻片，所述载玻片上安装有样品；X射线源，用于照射X射线到所述样品上；检测器，用于检测经所述样品反射的X射线；以及磁场发生器，用于产生并且向所述样品施加磁场。除了传统功能之外，所述X射线衍射装置还能实现一定的磁分析功能，因而能够在一定程度上代替中子衍射装置来使用。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 分析 功能 射线 衍射 装置 | ||
【主权项】：
一种X射线衍射装置，包括：样品台，其上用于固定载玻片，所述载玻片上安装有样品；X射线源，用于照射X射线到所述样品上；检测器，用于检测经所述样品反射或透射的X射线；以及磁场发生器，用于产生并且向所述样品施加磁场。
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