[发明专利]具有磁分析功能的X射线衍射装置

权利要求书

1.一种X射线衍射装置，包括：

样品台，其上用于固定载玻片，所述载玻片上安装有样品；

X射线源，用于照射X射线到所述样品上；

检测器，用于检测经所述样品反射或透射的X射线；以及

磁场发生器，用于产生并且向所述样品施加磁场。

2.如权利要求1所述的X射线衍射装置，其中，所述磁场发生器是电磁铁，所述电磁铁包括：

励磁线圈；以及

设置在所述励磁线圈中的铁芯，所述铁芯具有朝向所述样品延伸的极头。

3.如权利要求2所述的X射线衍射装置，其中，所述极头能够朝向和远离所述样品移动以调节施加到所述样品的磁场的大小。

4.如权利要求1所述的X射线衍射装置，还包括：

磁传感器，设置在所述样品台上并且在所述样品附近，用于感测向所述样品施加的磁场。

5.如权利要求1所述的X射线衍射装置，其中，所述磁场发生器包括用于施加第一磁场的第一电磁铁，所述第一磁场垂直或者平行于所述样品所位于的主平面。

6.如权利要求5所述的X射线衍射装置，其中，所述磁场发生器还包括用于施加第二磁场的第二电磁铁，所述第二磁场垂直于所述第一磁场。

7.如权利要求6所述的X射线衍射装置，其中，所述磁场发生器还包括用于施加第三磁场的第三电磁铁，所述第三磁场垂直于所述第一磁场和所述第二磁场。

8.如权利要求1所述的X射线衍射装置，还包括：

壳体，用于限定密封空间，所述样品台设置在所述密封空间内；

温度调节单元，用于调节所述密封空间内的温度；

温度传感器，用于感测所述密封空间内的温度；以及

温度控制器，用于基于所述温度传感器感测到的所述密封空间内的温度来控制所述温度调节单元的运行。

9.如权利要求8所述的X射线衍射装置，其中，所述载玻片包括：

本体，其上形成有凹槽和围绕所述凹槽的侧壁，所述温度传感器设置在所述凹槽内，并且通过导线连接到所述温度控制器，所述温度传感器上覆盖有导热材料，所述样品能安置在所述导热材料上。

10.如权利要求9所述的X射线衍射装置，其中，所述导热材料的上表面低于围绕所述凹槽的侧壁的上表面或者与之齐平。