[发明专利]一种单向磁化半导体波导集成多模干涉磁光隔离器有效

专利信息
申请号: 201610125818.5 申请日: 2016-03-03
公开(公告)号: CN105549154B 公开(公告)日: 2019-05-10
发明(设计)人: 毕磊;税科弋;邓龙江 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G02B6/27 分类号: G02B6/27
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 张杨
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于集成光学领域,具体涉及一种单向磁化半导体波导集成多模干涉磁光隔离器。该隔离器由依次连接的单模波导单元、多模波导单元和单模波导单元组成,且光波沿其传输,隔离器各波导单元所有波导均采用同一片SOI基片作为底层。各波导单元由至少一个对应的波导构成。多模波导单元中:第一多模波导从上到下依次为低折射率层、磁光薄膜层、半导体波导薄膜层和低折射率层;第二多模波导从上到下依次为低折射率层、半导体波导薄膜层、磁光薄膜层、半导体波导薄膜结构层和低折射率层。通过使多模干涉波导的宽度和单模波导一致,实现模式呈纵向分布。本发明实现了单向磁化下的MMI光隔离器结构,简化了磁场施加方法,使器件容易制备和封装。
搜索关键词: 一种 单向 磁化 半导体 波导 集成 干涉 隔离器
【主权项】:
1.一种单向磁化半导体波导集成多模干涉磁光隔离器,由依次连接的单模波导单元、多模波导单元和单模波导单元组成,其特征在于:所述隔离器各波导单元中的波导均采用同一片SOI基片的SiO2层作为底层,即低折射率层;隔离器的外加磁场方向垂直于光波导中光传播方向;多模波导的宽度和单模波导一致;单模波导单元,由至少一个单模波导构成;单模波导从上到下依次为:厚度2um‑3um的低折射率层、厚度400nm‑700nm的半导体波导薄膜层和厚度2um‑3um的低折射率层,且支持单模光传输;最下层的低折射率层宽度不小于500nm,其他各层的宽度为500nm;多模波导单元由至少一个第一多模波导和/或第二多模波导构成;第一多模波导从上到下依次为:厚度2um‑3um的低折射率层、厚度200‑350nm的磁光薄膜层、厚度400nm‑600nm的半导体波导薄膜层和厚度2um‑3um的低折射率层,且在垂直于薄膜表面方向上存在两个或以上的模式传播;波导最下层的低折射率层宽度不小于500nm,其他各层的宽度为500nm;第二多模波导从上到下依次为:厚度2um‑3um的低折射率层、厚度100nm‑300nm的半导体波导层、厚度200‑300nm的磁光薄膜层、厚度100nm‑300nm的半导体波导薄膜结构层和厚度2um‑3um的低折射率层,且在垂直于薄膜表面方向上支持两个或以上的模式传播;波导最下层的低折射率层宽度不小于500nm,其他各层的宽度为500nm。
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