[发明专利]沉积氧化物薄膜的方法、有机场效应晶体管及其制备方法有效
申请号: | 201610125626.4 | 申请日: | 2016-03-04 |
公开(公告)号: | CN105609637B | 公开(公告)日: | 2017-12-19 |
发明(设计)人: | 王新炜;高源鸿;邵友东;孟鸿 | 申请(专利权)人: | 北京大学深圳研究生院 |
主分类号: | H01L51/05 | 分类号: | H01L51/05;H01L51/30;H01L51/40 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)44268 | 代理人: | 王永文,刘文求 |
地址: | 518055 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开沉积氧化物薄膜的方法、有机场效应晶体管及其制备方法。沉积方法包括步骤A、将待处理的有机半导体装入气相原子层沉积装置的真空反应腔体;B、对真空反应腔体进行抽真空,维持真空反应腔体跟外部空气环境的有效隔离,并维持真空反应腔体的内部温度为20~100℃;C、向真空反应腔体中通入第一种气相前驱体,使其吸附在材料表面;D、通入载气将真空反应腔体中多余的第一种气相前驱体清除;E、向真空反应腔体中通入第二种气相前驱体,使之与吸附在材料表面的第一种气相前驱体反应,形成氧化物薄膜;F、通入载气将真空反应腔体中多余的第二种气相前驱体清除;重复步骤C至F直到获得设定厚度或结构的氧化物薄膜。 | ||
搜索关键词: | 沉积 氧化物 薄膜 方法 有机 场效应 晶体管 及其 制备 | ||
【主权项】:
一种利用原子层沉积技术在有机半导体上沉积氧化物薄膜的方法,其特征在于,包括步骤:A、将待处理的有机半导体装入气相原子层沉积装置的真空反应腔体;B、对真空反应腔体进行抽真空,维持真空反应腔体跟外部空气环境的有效隔离,并维持真空反应腔体的内部温度为20~100℃;C、向真空反应腔体中通入第一种气相前驱体,使其吸附在材料表面;D、通入载气将真空反应腔体中多余的第一种气相前驱体清除;E、向真空反应腔体中通入第二种气相前驱体,使之与吸附在材料表面的第一种气相前驱体反应,形成氧化物薄膜;所述第二种气相前驱体为非氧化性的前驱体;F、通入载气将真空反应腔体中多余的第二种气相前驱体清除;重复步骤C至F直到获得设定厚度的氧化物薄膜;所述氧化物薄膜的厚度为1~5nm。
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