[发明专利]X射线荧光玻璃熔片法测定重晶石中硫酸钡含量的方法有效

专利信息
申请号: 201610104932.X 申请日: 2016-02-25
公开(公告)号: CN105699409B 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 陈景伟;宋江涛;周长祥;耿楠;李玉明;汤云芝;伦会荣;李鹏;占发旺;于梦翌 申请(专利权)人: 山东省第四地质矿产勘查院
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N23/22
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 261000 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及一种X射线荧光玻璃熔片法测定重晶石中硫酸钡含量的方法,以酸浸除样品中的碳酸钡后,X射线荧光玻璃熔片法测定重晶石中的硫酸钡,以重晶石国家标准物质和人工标准制作硫酸钡标准系列,研究的测定方法快速简便,检出限低,且测试质量满足《地质矿产实验室测试质量管理规范》(DZ/T 0130—2006)的要求。
搜索关键词: 射线 荧光 玻璃 熔片法 测定 重晶石 硫酸钡 含量 方法
【主权项】:
1.X射线荧光玻璃熔片法测定重晶石中硫酸钡含量的方法,其特征在于,包括以下步骤:a.试样前处理:准确称取在105℃干燥2h的样品0.2000g,置于50mL烧杯中,加10mL10wt%的盐酸、4mL10wt%的硝酸,盖上表面皿,于低温电热板上加热微沸30min,加热过程中随时加水控制体积为10mL,取下,用水冲洗表面皿及杯壁,冷却至室温,用慢速滤纸过滤,将全部未溶解的样品移至滤纸上,水洗至无氯离子,将沉淀连同滤纸一起置于50mL瓷坩埚中,置于高温炉中低温烘干后升温灰化,于700℃灼烧30min,取出冷却至室温,转移到称量皿称量灼烧物质量,以高纯氧化铝补加到0.2000g,置于原坩埚中,称取6.0000g熔剂、0.5g硝酸铵于坩埚中,搅匀,转移到铂-金坩埚中,加饱和溴化锂溶液0.4mL,于高频熔样机上650℃预氧化3min,1075℃熔融2min,加碘化铵20mg,摇动熔融4.5min,再加碘化铵20mg,摇动熔融1.5min后倒入已预热的铂-金合金模具中,冷却至室温后倒出;所述熔剂由67wt%的Li2B4O7和33wt%的LiBO2组成;b.含量测定:将冷却至室温、处理后的试样置于XRF光谱仪进样交换器中测定:标准系列:以国家标准物质和人工配制的校准样品制作标准曲线,重晶石国家标准物质:GBW07811~GBW07817,岩石国家标准物质GBW07111、GBW07132,高纯BaSO4、以及人工配制的校准样品做标准系列;仪器工作条件:根据钡元素的性质,对重晶石中锶、溴、锌、硫、硅、铁、钛、钙、钾、铝、镁、钠及钡的分析条件进行了选择:电流/电压:钡及镁、钠、钛、硅、硫、钙、钾、铝选择低电压,高电流;准直器:钡及镁、钠、钛、硅、硫、钙、钾、铝选用粗准直器;滤光片:溴、锶、锌选用Al滤光片,降低散射背景,消除杂线干扰;钡及硫、硅、铁、钛、钙、钾、铝、镁、钠选择无滤光片;峰值角度:以熔片法制备的重晶石样品进行扫描,根据扫描得到的峰位确定峰值角度;背景点:钡、锶、溴、锌、硫、硅的背景点选择在长波侧;铁、钛、钙、钾、铝的背景点选择在短波侧;镁、钠在谱峰的长短波两侧各有一个背景点;PHD:为过滤掉干扰谱线对钡元素的影响,作PHD分布条件检查,确定PHD上下限值;测量时间:根据元素的性质和测量的准确度要求确定测量时间;c.检测结果:检出限为0.0087%,测定限为0.18%。
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