[发明专利]验证执行模幂计算的电子电路的敏感度有效
| 申请号： | 201610101988.X | 申请日： | 2016-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN106484365B | 公开（公告）日： | 2019-03-19 |
| 发明（设计）人： | Y·特戈利亚 | 申请（专利权）人： | 意法半导体(鲁塞)公司 |
| 主分类号： | G06F7/72 | 分类号： | G06F7/72;G06F21/60 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本公开的实施例涉及验证执行模幂计算的电子电路的敏感度。一种验证在第一寄存器和第二寄存器中执行模幂计算的电子电路的敏感度的方法，连续地包括针对指数的每个比特：将寄存器中根据指数的比特的状态从第一寄存器和第二寄存器之中选择的一个寄存器的内容乘以第一寄存器和第二寄存器中的另一个寄存器的内容、将结果放置在寄存器中的所述一个寄存器中的第一步骤；通过将该结果放置在该另一寄存器中来对寄存器中的所述另一个的内容求平方的第二步骤，其中在对第一步骤的执行期间，针对指数的每个比特，扰乱第一寄存器和第二寄存器中包含第一步骤的操作的乘数的内容。 | ||
| 搜索关键词： | 验证 执行 计算 电子电路 敏感度 | ||
【主权项】：
1.一种用于验证执行模幂计算的电子电路的敏感度的方法，包括：验证使用第一寄存器和第二寄存器执行模幂计算的电子电路的敏感度，其中：执行所述模幂计算包括连续地针对所述计算的指数的每个比特：将所述寄存器中根据所述指数的当前比特的状态从所述第一寄存器和所述第二寄存器之中选择的一个寄存器的内容与所述第一寄存器和所述第二寄存器中的另一个寄存器的内容相乘，并且将所述相乘的结果放置在所述第一寄存器和所述第二寄存器中的所述一个寄存器中；并且对所述第一寄存器和所述第二寄存器中的所述另一个寄存器的内容求平方，并且将所述求平方的结果放置在所述第一寄存器和所述第二寄存器中的所述另一个寄存器中；以及所述验证包括：在所述相乘期间，针对所述计算的所述指数的每个比特，扰乱所述第一寄存器和所述第二寄存器中的至少一个寄存器的内容；并且基于所述模幂计算的经扰乱的结果来确定所述电子电路的所述敏感度。
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