[发明专利]评价高分子材料的硬度以及能量损失的方法

摘要

本申请提供测定精度优良、且对各试样的性能差也能充分评价的评价高分子材料的回弹弹性模量、硬度或能量损失的方法。本发明涉及通过向高分子材料照射X射线或中子束，实施X射线散射测定或中子束散射测定，从而评价高分子材料的回弹弹性模量、硬度或能量损失的方法。

主权项

1.一种评价高分子材料的硬度的方法，是通过向高分子材料照射X射线或中子束，实施X射线散射测定或中子散射测定，从而评价高分子材料的硬度的方法，其中，对于通过所述X射线散射测定或中子散射测定得到的散射强度曲线I(q)，用下述式2‑2～式2‑3进行曲线拟合而得到出1nm～100μm的惯性半径Rg，使用该惯性半径Rg来评价硬度；式2‑1θ：散射角，λ：X射线或中子束的波长，式2‑2式2‑3Pi、Gi、Rgi、Dfi：拟合参数，n：整数，q：与前述式2‑1所定义的相同，z、t：任意的正数。