[发明专利]一种测量天线姿态的方法和装置有效
| 申请号： | 201580080053.1 | 申请日： | 2015-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN107534202B | 公开（公告）日： | 2019-10-01 |
| 发明（设计）人： | 李明凡;李颖哲;耿卫东 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H01Q1/12 | 分类号： | H01Q1/12;G01C1/00 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种测量天线姿态的方法和装置，涉及天线姿态测量技术领域，用以解决现有技术中，因需要在生产天线的过程中为每根天线加装测量设备，从而导致的生产天线的过程较复杂的问题。本发明实施例提供的方法包括：获取电子设备从I个视点对应采集的I个图像；其中，每个图像包含待测量天线子图像，I≥2，I为整数；获取该I个图像中的每个图像的待测量集合中的各点在电子设备坐标系下的二维坐标；其中，待测量集合为待测量天线子图像的至少两个点构成的集合；获取该各点在天线坐标系下的三维坐标；根据该各点在电子设备坐标系下的二维坐标与该各点在天线坐标系下的三维坐标，确定待测量天线的姿态信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 天线 姿态 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测量天线姿态的方法，其特征在于，包括：获取电子设备从I个视点对应采集的I个图像；其中，每个所述图像包含待测量天线子图像，I≥2，I为整数；获取所述I个图像中的每个图像的待测量集合中的各点在电子设备坐标系下的二维坐标；其中，所述待测量集合为所述待测量天线子图像的至少两个点构成的集合；获取所述各点在天线坐标系下的三维坐标；根据所述各点在所述电子设备坐标系下的二维坐标与所述各点在所述天线坐标系下的三维坐标，确定所述待测量天线的姿态信息。
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