[发明专利]一种测量天线姿态的方法和装置

权利要求书

1.一种测量天线姿态的方法，其特征在于，包括：

获取电子设备从I个视点对应采集的I个图像；其中，每个所述图像包含待测量天线子图像，I≥2，I为整数；

获取所述I个图像中的每个图像的待测量集合中的各点在电子设备坐标系下的二维坐标；其中，所述待测量集合为所述待测量天线子图像的至少两个点构成的集合；

获取所述各点在天线坐标系下的三维坐标；

根据所述各点在所述电子设备坐标系下的二维坐标与所述各点在所述天线坐标系下的三维坐标，确定所述待测量天线的姿态信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述各点在电子设备坐标系下的二维坐标与所述各点在所述天线坐标系下的三维坐标，确定所述待测量天线的姿态信息，包括：

根据所述各点在电子设备坐标系下的二维坐标，获取所述各点在参考坐标系下的三维坐标；其中，所述参考坐标系为定标板坐标系或世界坐标系；

根据所述各点在所述参考坐标系下的三维坐标与所述各点在所述天线坐标系下的三维坐标，确定所述待测量天线的姿态信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述各点在所述参考坐标系下的三维坐标与所述各点在所述天线坐标系下的三维坐标，确定所述待测量天线的姿态信息，包括：

根据所述各点在所述参考坐标系下的三维坐标和所述各点在所述天线坐标系下的三维坐标，得到世界坐标系与所述天线坐标系之间的旋转矩阵；

根据所述世界坐标系与所述天线坐标系之间的旋转矩阵，得到所述待测量天线的姿态信息。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述参考坐标系为定标板坐标系；每个所述图像还包含定标板子图像；所述根据所述各点在所述参考坐标系下的三维坐标和所述各点在所述天线坐标系下的三维坐标，得到世界坐标系与天线坐标系之间的旋转矩阵，包括：

根据所述各点在所述参考坐标系下的三维坐标和所述各点在所述天线坐标系下的三维坐标，得到所述定标板坐标系到所述天线坐标系的旋转矩阵R_c2a；

根据每个所述图像中均包含定标板子图像，获取所述电子设备坐标系到所述定标板坐标系的旋转矩阵R_p2c；

根据公式R_w2a＝R_w2pR_p2cR_c2a，得到所述世界坐标系到所述天线坐标系的旋转矩阵R_w2a；其中，R_w2p为所述世界坐标系到所述电子设备坐标系的旋转矩阵。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述待测量集合为：所述待测量天线子图像的长轴的两个端点构成的集合，或，所述待测量天线子图像的外轮廓上的点构成的集合。

6.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述待测量天线的姿态信息包括以下信息中的至少一种：方位角、倾斜角。

7.一种测量天线姿态的装置，其特征在于，包括：

第一获取单元，用于获取电子设备从I个视点对应采集的I个图像；其中，每个所述图像包含待测量天线子图像，I≥2，I为整数；

第二获取单元，用于获取所述I个图像中的每个图像的待测量集合中的各点在电子设备坐标系下的二维坐标；其中，所述待测量集合为所述待测量天线子图像的至少两个点构成的集合；

第三获取单元，用于获取所述各点在天线坐标系下的三维坐标；

确定单元，用于根据所述各点在所述电子设备坐标系下的二维坐标与所述各点在所述天线坐标系下的三维坐标，确定所述待测量天线的姿态信息。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述确定单元具体用于：

根据所述各点在电子设备坐标系下的二维坐标，获取所述各点在参考坐标系下的三维坐标；其中，所述参考坐标系为定标板坐标系或世界坐标系；

根据所述各点在所述参考坐标系下的三维坐标与所述各点在所述天线坐标系下的三维坐标，确定所述待测量天线的姿态信息。