[发明专利]光学分析装置及其制造方法有效
| 申请号： | 201580079131.6 | 申请日： | 2015-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN107532995B | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 长井悠佑 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N21/05 | 分类号： | G01N21/05;G01N21/59;G01N35/08 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本国京都府京*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在作为半导体元件用基板而使用的蓝宝石的基体(2)上形成供试样溶液流动的流路(3)，通过半导体制造工序，在基体(2)上夹持该流路(3)并对置地形成LED(4)和光电二极管(5)。LED(4)向基体(2)侧辐射光，该光在通过流路(3)中的试样溶液时受到与浓度等相应的吸收。该透过光通过基体(2)到达光电二极管(5)，光电二极管(5)输出与入射的光量相应的检测信号。根据该装置，光源、光检测器在流通池即基体(2)上被一体化，因此能够谋求小型轻质化，并且不需要装置组装时的繁琐的光轴调整。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 分析 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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