[发明专利]光反射型传感器和电子设备有效
申请号: | 201580036672.0 | 申请日: | 2015-05-21 |
公开(公告)号: | CN106471335B | 公开(公告)日: | 2018-11-30 |
发明(设计)人: | 高冈隆志;冈田教和;高田敏幸;辻雅树;佐藤克德 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G01C3/06 | 分类号: | G01C3/06;G01S7/486;G01S17/10 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;池兵 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 光反射型传感器包括:对测距对象物(7)照射光的发光元件(2);将来自测距对象物(7)的反射光聚光的受光光学系统(4);接收由上述受光光学系统(4)聚光后的光,并且输出与受光位置相应的光电流信号的受光元件(6);和信号处理电路(8),其基于从上述受光元件(6)输出的上述光电流信号,求出上述受光元件(6)上的受光位置信息和光的飞行时间信息,该光的飞行时间信息为从上述发光元件(2)照射光后至该光被测距对象物(7)反射而由上述受光元件(6)接收的时间。 | ||
搜索关键词: | 反射 传感器 电子设备 | ||
【主权项】:
1.一种光反射型传感器,其特征在于,包括:对测距对象物(7)照射光的发光元件(2);对从所述发光元件(2)照射的光进行聚光的发光透镜(3);将来自测距对象物(7)的反射光聚光的受光光学系统(4);接收由所述受光光学系统(4)聚光后的光,并且输出与受光位置相应的光电流信号的受光元件(6);和信号处理电路(8),该信号处理电路(8)基于从所述受光元件(6)输出的所述光电流信号,求出所述受光元件(6)上的受光位置信息和光的飞行时间信息,该光的飞行时间信息为从所述发光元件(2)照射光后至该光被测距对象物(7)反射而由所述受光元件(6)接收的时间,所述发光元件(2)照射具有放射角度的光,所述测距对象物(7)位于所述发光元件(2)的放射角度内,所述光反射型传感器还包括:存储部(10),该存储部(10)存储下述运算式[1]~[4],该运算式[1]~[4]用于根据来自所述测距对象物(7)的反射光入射到所述受光元件(6)的入射角度和关于该测距对象物(7)的所述光的飞行时间信息,计算该测距对象物(7)的以所述受光光学系统(4)为基点的位置信息;和运算处理部(9),该运算处理部(9)基于由所述信号处理电路(8)求出的所述受光位置信息,求出来自所述测距对象物(7)的反射光的所述入射角度,并且基于该求出的所述入射角度和由所述信号处理电路(8)求出的所述光的飞行时间信息,使用存储在所述存储部(10)中的所述运算式计算所述测距对象物(7)的所述位置信息,X+Y=T·C…[1],L2=Ysinα…[2],A2=Ycosα…[3],X2=L22+(A1‑A2)2…[4],X:从所述发光透镜(3)至所述测距对象物(7)的距离,Y:从所述测距对象物(7)至所述受光元件(6)的距离,T:所述光的飞行时间信息,C:光速,L2:从基线至所述测距对象物(7)的距离,其中,所述基线为通过所述发光透镜(3)和所述受光光学系统(4)的直线,α:来自所述测距对象物(7)的反射光入射到所述受光元件(6)的入射角度,A1:基线长度即所述发光透镜(3)与所述受光光学系统(4)之间的距离,A2:从所述测距对象物(7)向所述基线引的垂线与所述基线的交点至所述受光光学系统(4)的距离。
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