[发明专利]SiC单晶的制造方法有效

专利信息
申请号: 201580008068.7 申请日: 2015-02-12
公开(公告)号: CN106029959B 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 楠一彦;龟井一人;大黑宽典;坂元秀光 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B19/04
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供在籽晶与Si‑C溶液之间气泡难以进入的SiC单晶的制造方法。SiC单晶的制造方法为:利用将籽晶(10)的主表面(10a)朝向下方并使其与Si‑C溶液(11)接触而在主表面(10a)上使SiC单晶生长的溶液生长法得到SiC单晶的制造方法。主表面(10a)平坦。该制造方法包括:接触工序A、接触工序B和生长工序。接触工序A中,使主表面(10a)的一部分区域与贮存的Si‑C溶液(11)接触。接触工序B中,以在接触工序A中接触的一部分区域即初始接触区域作为起始点,通过润湿现象来扩大主表面(10a)与贮存的Si‑C溶液(11)的接触区域。生长工序中,使SiC单晶在与贮存的Si‑C溶液(11)接触的主表面(10a)上生长。
搜索关键词: 主表面 单晶 制造 贮存 接触区域 籽晶 生长 润湿 溶液生长法 单晶生长 起始点 平坦
【主权项】:
1.一种SiC单晶的制造方法,其为利用将籽晶的主表面朝向下方并使其与Si‑C溶液接触而在所述主表面上使SiC单晶生长的溶液生长法得到SiC单晶的制造方法,所述主表面平坦,所述制造方法包括下述工序:接触工序A,使所述主表面的一部分区域与贮存的Si‑C溶液接触;接触工序B,以在所述接触工序A中接触的一部分区域即初始接触区域作为起始点,通过润湿现象来扩大所述主表面与所述贮存的Si‑C溶液的接触区域;和生长工序,使SiC单晶在与所述贮存的Si‑C溶液接触的所述主表面上生长,其中,所述接触工序A包括下述工序:工序A‑1a,通过使所述主表面与所述贮存的Si‑C溶液接触,然后使所述主表面离开所述贮存的Si‑C溶液,由此成为在所述主表面的一部分区域附着有Si‑C溶液的状态;工序A‑1b,使附着于所述主表面的一部分区域的Si‑C溶液与所述贮存的Si‑C溶液接触。
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