[实用新型]X荧光光谱分析仪有效
| 申请号： | 201521113363.2 | 申请日： | 2015-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN205384236U | 公开（公告）日： | 2016-07-13 |
| 发明（设计）人： | 高华;余正东 | 申请（专利权）人： | 北京邦鑫伟业技术开发有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 鲁兵 |
| 地址： | 102200 北京市昌平*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及测量设备领域，提供一种X荧光光谱分析仪，其包括X射线发生装置、真空测量室、安装于上述真空测量室内的多个固定元素道和与各上述固定元素道分别对应设置的探测器，通过对上述探测器施加电压来进行化学元素的测试，该X荧光光谱分析仪还包括显示和调节施加在上述探测器上的电压的显示调节面板(100)。本实用新型的有益效果在于：使得X荧光光谱分析仪的调试和维修更加容易，且能够提高探测器上的电压的调节精度，使操作人员无需反复进行多次的检测和调节。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 光谱分析 | ||
【主权项】：
一种X荧光光谱分析仪，其包括X射线发生装置、真空测量室、安装于所述真空测量室内的多个固定元素道和与各所述固定元素道分别对应设置的探测器，通过对所述探测器施加电压来进行化学元素的测试，该X荧光光谱分析仪的特征在于：包括显示和调节施加在所述探测器上的电压的显示调节面板。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京邦鑫伟业技术开发有限公司，未经北京邦鑫伟业技术开发有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201521113363.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种便捷式PH计
- 下一篇：一种钢筋混凝土模拟腐蚀试验装置
