[实用新型]X荧光光谱分析仪

权利要求书

1.一种X荧光光谱分析仪，其包括X射线发生装置、真空测量室、安装于所述真空测量室内的多个固定元素道和与各所述固定元素道分别对应设置的探测器，通过对所述探测器施加电压来进行化学元素的测试，该X荧光光谱分析仪的特征在于：

包括显示和调节施加在所述探测器上的电压的显示调节面板。

2.如权利要求1所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：

所述显示调节面板包括：显示所述探测器上的电压的电压值的显示单元；检测所述探测器上的电压并将检测到的所述电压值传送到所述显示单元的电压检测单元；和通过改变所述探测器的电源的控制电压来调节施加在所述探测器上的电压的电压调节单元。

3.如权利要求2所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：

所述电压检测单元包括集成有与检测元素对应的多通道的AD采样单元的单片机。

4.如权利要求2所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：

所述显示调节面板还包括存储有与要测试的化学元素对应的所述探测器的电压的目标范围值的存储器，

该存储器与所述显示单元连接，使得所述显示单元显示所述目标范围值。

5.如权利要求2所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：

在所述显示调节面板还包括用于对所述显示单元进行显示操作的操作部。

6.如权利要求1至5中任一项所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：

在所述显示调节面板的表面设置有软面板，

所述软面板包括：与所述显示单元对应设置的透明或中空的显示窗口；与所述电压调节单元对应且具有使电压调节工具能够插入到所述电压调节单元的尺寸的多个电压调节孔；和与所述电压调节孔对应设置的用于指示要测试的化学元素的多个化学元素标识。