[实用新型]X荧光光谱分析仪

说明书

技术领域

本实用新型属于测量设备领域，涉及X荧光光谱分析仪，特别是涉及一种具有能够显示和调节施加在探测器上的电压的显示调节面板的X荧光光谱分析仪。

背景技术

在现有的波长色散型多元素同时测定型X荧光光谱分析仪(简称同定型WDXRFS)中，一般来说在其真空测量室内安装有多个固定元素道(简称元素道)，且对每个固定元素道设置有一个探测器。在元素道的特征X射线经分光后，由探测器(例如，流气式正比计数器)进行检测。该探测器将X射线荧光光量子转变为一定形状和数量的电脉冲，表征X射线荧光的能量和强度。探测器实质上是一种能量与电量的传感器，在工作时需要在探测器的工作丝上施加600～3000V的电压，从而在探测器内部形成电场，以进行化学元素的测试。具体来说，当探测器中的探测气体受到X射线照射时，会产生大量由负电子和正电性工作气体组成的离子对，电子在电压的作用下会加速飞向阳极金属丝，并引发进一步的电离，与该电离对应的电流信号经放大器处理后完成信号测量。

同定型WDXRFS在测试不同元素时由于所测波长不同，施加在探测器上的电压也不同。此外，由于工作环境等的不同，也会导致施加在探测器上的电压不同。因此，施加在探测器上的电压不是一个固定值。在同定型WDXRFS调试安装时以及同定型WDXRFS使用一段时间后，需要经常根据仪器所要测试的元素来将施加在探测器上的电压调节在一个合适的范围内。

作为施加在探测器上的电压的调节方法，通常是使用探测棒来检测探测器上的电压，根据检测出的检测值来调节探测器上的电压，具体来说，通过改变探测器电源的控制电压来调节施加在探测器上的电压，控制电压的调节范围一般在30V左右，精细调节时在5V以内。控制电压例如0～5V对应控制探测器上的电压0～2500V。

然而，在现有的施加在探测器上的电压的调节方法中，在使用探测棒来检测电压时，需要将同定型WDXRFS上设置的放大器和电源等拆掉，将仪器盖子打开。此外，为了防止受到外部环境的干扰，在检测和调节探测器上的电压时还需要盖上屏蔽壳。这样，在进行探测器上的电压的调节时，电压往往会被调节得过高或过低，因此需要操作员反复进行多次的检测和调节，而且每次检测和调节时都需要拆装仪器，使得操作员需要进行复杂的操作，并且还需要携带探测棒、屏蔽壳等繁多的工具。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型的目的在于提供一种X荧光光谱分析仪，其能够显示和调节施加在探测器上的电压，使得X荧光光谱分析仪的调试和维修更加容易，且使调节精度得到提高。

为了实现上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种X荧光光谱分析仪，其包括X射线发生装置、真空测量室、安装于上述真空测量室内的多个固定元素道和与各上述固定元素道分别对应设置的探测器，通过对上述探测器施加电压来进行化学元素的测试，该X荧光光谱分析仪的特征在于：

包括显示和调节施加在上述探测器上的电压的显示调节面板。

在本实用新型的一实施例中，上述显示调节面板包括：显示上述探测器上的电压的电压值的显示单元；检测上述探测器上的电压并将检测到的上述电压值传送到上述显示单元的电压检测单元；和通过改变上述探测器的电源的控制电压来调节施加在上述探测器上的电压的电压调节单元。

在本实用新型的一实施例中，上述电压检测单元包括集成有与检测元素对应的多通道的AD采样单元的单片机。

在本实用新型的一实施例中，上述显示调节面板还包括存储有与要测试的化学元素对应的上述探测器的电压的目标范围值的存储器，该存储器与上述显示单元连接，使得上述显示单元显示上述目标范围值。

在本实用新型的一实施例中，在上述显示调节面板还包括用于对上述显示单元进行显示操作的操作部。

在本实用新型的一实施例中，在上述显示调节面板的表面设置有软面板，上述软面板包括：与上述显示单元对应设置的透明或中空的显示窗口；与上述电压调节单元对应且具有使电压调节工具能够插入到上述电压调节单元的尺寸的多个电压调节孔；和与上述电压调节孔对应设置的用于指示要测试的化学元素的多个化学元素标识。

本实用新型的积极效果

1、使操作人员能够根据显示调节面板上所显示的施加在探测器上的电压来调节该探测器上的电压，由此，在调节探测器上的电压时无需拆装仪器，也无需携带屏蔽壳和高压探测棒等繁多的工具，使得X荧光光谱分析仪的调试和维修更加容易。

2、由于无需拆装仪器，因此能够提高探测器上的电压的调节精度，使操作人员无需反复进行多次的检测和调节。