[实用新型]能够进行多种晶元研磨工艺处理的晶元处理系统有效
申请号: | 201520840851.7 | 申请日: | 2015-10-27 |
公开(公告)号: | CN205428874U | 公开(公告)日: | 2016-08-03 |
发明(设计)人: | 孙昞澈;牟然民;崔光洛 | 申请(专利权)人: | K.C.科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;H01L21/677;H01L21/67 |
代理公司: | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人: | 朱健;陈国军 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及一种晶元处理系统,其包括:晶元载体,其以包括晶元的状态移动;第一导轨,其排列为包括在所述晶元载体的所述晶元通过第一研磨平板的通道,并且所述晶元载体可移动在所述第一导轨;第二导轨,其排列为包括在所述晶元载体的所述晶元通过第二研磨平板的通道,并且所述晶元载体可移动在所述第二导轨;第三导轨,其排列在所述第一导轨和所述第二导轨的,从而所述晶元载体可移动在所述第三导轨;第一连接轨道,其连接第一位置和第二位置,所述第一位置与所述第一导轨的一端隔离,所述第二位置与所述第二导轨的一端隔离;载体容器,其可容纳位于所述第一导轨和所述第三导轨和所述第二导轨中任意一个的所述晶元载体,并且可设置为以容纳有所述晶元载体的状态沿着所述第一连接轨道往返移动,沿着所述第一连接轨道往返移动后,移动到能够使其容纳的所述晶元载体与所述第一导轨和所述第三导轨和所述第二导轨中任意一个往来的位置,由此提供一种能够在占据规定的空间的一种配置构造中,根据晶元的种类以多种方式对晶元进行多种研磨工艺的晶元处理系统。 | ||
搜索关键词: | 能够 进行 多种 研磨 工艺 处理 系统 | ||
【主权项】:
一种晶元处理系统,其特征在于,包括:晶元载体,其以包括晶元的状态移动;第一导轨,其排列为包括在所述晶元载体的所述晶元通过第一研磨平板的通道,并且所述晶元载体可移动在所述第一导轨;第二导轨,其排列为包括在所述晶元载体的所述晶元通过第二研磨平板的通道,并且所述晶元载体可移动在所述第二导轨;第三导轨,其排列在所述第一导轨和所述第二导轨,从而所述晶元载体可移动在所述第三导轨;第一连接轨道,其连接第一位置和第二位置,所述第一位置与所述第一导轨的一端隔离,所述第二位置与所述第二导轨的一端隔离;载体容器,其可容纳位于所述第一导轨和所述第三导轨和所述第二导轨中任意一个的所述晶元载体,并且其可设置为以容纳有所述晶元载体的状态沿着所述第一连接轨道往返移动,沿着所述第一连接轨道往返移动后,移动到能够使其容纳的所述晶元载体与所述第一导轨和所述第三导轨和所述第二导轨中任意一个往来的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于K.C.科技股份有限公司,未经K.C.科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201520840851.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造